根據不同的技術和應用需求，本公司生產的橢偏儀應用于大學和研究所的科學研究領域，具有較完整的測量功能和較高的，從儀器狀態(tài)調整、參數設置、數據采集一直到數據處理計算機自動完成，可工作于從紅外至紫外的寬廣光譜區(qū)，波長連續(xù)可調，入射角度在20度到90度內連續(xù)可調。公司研制生產并實現了市場的多年推廣和應用的2個系列全自動單波長橢圓偏振光譜儀：型-全自動波長掃描橢圓偏振光譜儀（ELLIPA型），主要應用于科研；普及型-全自動單波長橢圓偏振光譜儀（ELLIPE型），主要應用于教學。　
　　
　　全自動波長掃描橢圓偏振光譜儀（ELLIPA型）－型　
　　該光譜儀主要用于信息光電子功能薄膜和體材料的光學性質和結構特性研究，可被研究材料的種類包括：金屬和合金、元素和化合物半導體、緣體、導體、磁性和磁光材料、材料、多層薄膜材料等。在測量中，可按研究條件同時對入射角和波長進行自動精細掃描，從而增加了研究的靈，便于用戶獲得更多的光譜信息進行數據分析，了研究的質量和性。該光譜儀的主要性能指標國際同類技術的水平。
　　
　　ELLIPA型　
　　主要技術參數：　
　　波長范圍　250-830nm　
　　光源　氙燈　
　　測量方式　同步　
　　定標方式　自洽、　
　　探測器　光電管　
　　入射角范圍　20-90度　
　　
　　主要用途：　
　　1、各種功能材料的光學常數測量和光譜學特性分析；　
　　2、測量薄膜材料的折射率和厚度；　
　　測量對象包括：金屬、半導體、導體、緣體、非晶體、晶格、磁性材料、薄膜材料、光電材料、非線性材料；　
　　測量光學常數：復折射率的實虛部、復介電常數的實虛部、吸收系數a、反射率R?！?
　　主要性能指標：　
　　波長范圍　250-830nm　
　　波長分辨率　1.0nm　
　　入射角范圍　20-90度　
　　入射角　0.001度　
　　橢偏參數　D±0.02度；Y±0.01度　
　　光學常數　0.5％　
　　膜厚準確度　±0.1nm　
　　
　　全自動單波長橢圓偏振光譜儀（ELLIPE型）-普及型　
　　為了能在更廣泛的領域推廣應用橢偏光學的原理和技術，本公司研制了固定波長的變入射角橢偏儀，尤其適合于在大學的教學和工業(yè)生產領域使用，具有較高的性能價格比，為一款普及推廣型的光譜測試設備?！?
　　
　　設備技術指標：　
　　光源　半導體激光器　
　　波長　635nm　
　　入射角范圍　20-90度　
　　測量模式　反射　
　　信號檢測模式　12位A／D采樣　
　　測量方式　以2：1速率同步旋轉起偏和檢偏器，自動完成AC信號測量　
　　數據測量方式　傅立葉變換　
　　實測光學常數種類　復折射率、復介電常數、吸收系數、反射率　
　　膜厚　±1nm　
　　系統定標方式　自洽、定標　
　　
　　主要用途：　
　　1、各種功能材料的光學常數測量和光譜學特性分析；　
　　2、測量薄膜材料的折射率和厚度；　
　　測量對象包括：金屬、半導體、導體、緣體、非晶體、晶格、磁性材料、光電材料、非線性材料；測量光學常數：復折射率的實虛部、復介電常數的實虛部、吸收系數a、反射率R。