JET-300在缐測試機（IN CIRCUIT TTER）是經(jīng)由量測電路板上件，包括電阻、電容、電感、二體、電晶體、FET、SCR、LED 和IC等，檢測出電路板產(chǎn)品的各種缺點諸如：缐路短路、斷路、缺件、錯件、件不良或裝配不良等，并明確地指出缺點的所在位置，幫助使用者產(chǎn)品的品質(zhì)，并不良品檢修效率。它還使用可用數(shù)億次開關(guān)的磁簧式繼電器（REED RELAY），是當(dāng)今測試涵蓋率，測試穩(wěn)定，使用方便，提供資料的在缐測試機。
以下是JET-300的產(chǎn)品特性
硬體規(guī)格
REED RELAY的掃描板
JET-300的掃描板采用了可耐用二億次的REED RELAY，徹底解決了I 掃描板容易損壞的問題，由于REED RELAY 的應(yīng)用，使JET-300在性能上大有。諸如：
1.Zener diode 測試電壓可達50V，測試點皆可使用。
2.小電容和小電感量測較準確和穩(wěn)定，較不受溫度的影響。
3.電容性的可偵測率較用CMOS RELAY時大為。
4.可耐高壓又有殘存電壓偵測功能，掃描板受到充分的保護。
5.配置功能測試的可行性較高。
美國安捷倫公司針對SMD IC接腳開路完整偵測的問題，成功的研發(fā)出Agilent TtJet Technology的技術(shù)以因應(yīng)。本公司在取得安捷倫公司的授權(quán)后，已于JET-300 I 系統(tǒng)上配備了此技術(shù)，大幅了數(shù)位電路板的可偵測率。電腦主機板、介面卡或傳真機、數(shù)據(jù)機的機板皆可得到滿意的測試效果。其應(yīng)用上的優(yōu)點如下：
1.Agilent TtJet Technology的功能是利用量測一個銅箔板與IC腳框（Frame）之間的電容量來偵測接腳的斷路與否。此技術(shù)無需撰寫任何程式，即可做正確而的測試。
2.Agilent TtJet Technology可測試各種不同包裝的IC，如 Insertion te，PLCC te，QFP te，TAB te，PGA te（無接地者），BGA te（OMPAC）等都可測試。
3.Agilent TtJet Technology也可用來偵測各種插座的接腳斷路，不論是Insertion te或是 SMD te皆可偵測。
寬頻而準確的相位分離量測法
對于在RC或RL并聯(lián)電路中的R.L.C.可用相位測量法，分別量出其件值，由于信號源頻率寬廣（100Hz到1MHz），因此可以偵測的范圍一般的I，像下圖缐路中的件都可以準確量測。
三端點、四端點量測
JET-300可對三端點的件如 TRANSISTOR，DIGITAL TRANSISTOR，F(xiàn)ET，SCR等。或四端點件如 PHOTO COUPLER，做正確的測試，如有反插或件損壞，可測出。TRANSISTOR的β值也可量測。
電解電容性測試
以三端點法偵測鋁質(zhì)電解電容性反插，可測率100%；以測漏電流方式偵測電解電容性反插，可測率高。
軟體系統(tǒng)
JET-300擁有一般I的軟體功能，無論是在測試前的程式制作支援軟體，或是測試后的不良資訊和資料分析，都有高水準的表現(xiàn)。在微軟中文視窗環(huán)境下執(zhí)行的系統(tǒng)程式，操作容易，大。
差件（焊點）
系統(tǒng)可列印出不良數(shù)多的件（名）和不良次數(shù)多的焊點（點）供廠商做品質(zhì)控制或制程的參考。
測試資料統(tǒng)計的日報表和月報表
圖表上半的長條圖用以顯示當(dāng)月份每日累積OPEN/SHORT，件不良率及整個測試的可接受率。圖表的下半派圖用以清楚明了地顯示當(dāng)日各不良原因的百分比。
網(wǎng)路即時監(jiān)控系統(tǒng)
如果把多臺I連到內(nèi)部網(wǎng)路系統(tǒng)，則每一臺I的測試統(tǒng)計資料都可以在網(wǎng)路上的任何一臺電腦上顯示，管理者可以很方便地查看生產(chǎn)缐的狀況。
網(wǎng)路錯誤訊息查詢系統(tǒng)
只要把I 和檢修站都連到內(nèi)部網(wǎng)路系統(tǒng)，則在檢修站就可以檢視到不良板的錯誤訊息，包括：打印機的印出訊息和錯誤圖形顯示。
待測板圖形顯示功能
可在待測板不良發(fā)生時，明白顯示不良件或焊點的位置，亦可在件位置查詢時顯示件的位置，此功能可大大縮短不良品檢修的時間和程式調(diào)適的時間。如果廠內(nèi)有網(wǎng)路連缐系統(tǒng)，則此圖形亦可在維修站的螢?zāi)簧巷@示出來。
以下是JET-300的產(chǎn)品特性
硬體規(guī)格
REED RELAY的掃描板
JET-300的掃描板采用了可耐用二億次的REED RELAY，徹底解決了I 掃描板容易損壞的問題，由于REED RELAY 的應(yīng)用，使JET-300在性能上大有。諸如：
1.Zener diode 測試電壓可達50V，測試點皆可使用。
2.小電容和小電感量測較準確和穩(wěn)定，較不受溫度的影響。
3.電容性的可偵測率較用CMOS RELAY時大為。
4.可耐高壓又有殘存電壓偵測功能，掃描板受到充分的保護。
5.配置功能測試的可行性較高。
美國安捷倫公司針對SMD IC接腳開路完整偵測的問題，成功的研發(fā)出Agilent TtJet Technology的技術(shù)以因應(yīng)。本公司在取得安捷倫公司的授權(quán)后，已于JET-300 I 系統(tǒng)上配備了此技術(shù)，大幅了數(shù)位電路板的可偵測率。電腦主機板、介面卡或傳真機、數(shù)據(jù)機的機板皆可得到滿意的測試效果。其應(yīng)用上的優(yōu)點如下：
1.Agilent TtJet Technology的功能是利用量測一個銅箔板與IC腳框（Frame）之間的電容量來偵測接腳的斷路與否。此技術(shù)無需撰寫任何程式，即可做正確而的測試。
2.Agilent TtJet Technology可測試各種不同包裝的IC，如 Insertion te，PLCC te，QFP te，TAB te，PGA te（無接地者），BGA te（OMPAC）等都可測試。
3.Agilent TtJet Technology也可用來偵測各種插座的接腳斷路，不論是Insertion te或是 SMD te皆可偵測。
寬頻而準確的相位分離量測法
對于在RC或RL并聯(lián)電路中的R.L.C.可用相位測量法，分別量出其件值，由于信號源頻率寬廣（100Hz到1MHz），因此可以偵測的范圍一般的I，像下圖缐路中的件都可以準確量測。
三端點、四端點量測
JET-300可對三端點的件如 TRANSISTOR，DIGITAL TRANSISTOR，F(xiàn)ET，SCR等。或四端點件如 PHOTO COUPLER，做正確的測試，如有反插或件損壞，可測出。TRANSISTOR的β值也可量測。
電解電容性測試
以三端點法偵測鋁質(zhì)電解電容性反插，可測率100%；以測漏電流方式偵測電解電容性反插，可測率高。
軟體系統(tǒng)
JET-300擁有一般I的軟體功能，無論是在測試前的程式制作支援軟體，或是測試后的不良資訊和資料分析，都有高水準的表現(xiàn)。在微軟中文視窗環(huán)境下執(zhí)行的系統(tǒng)程式，操作容易，大。
差件（焊點）
系統(tǒng)可列印出不良數(shù)多的件（名）和不良次數(shù)多的焊點（點）供廠商做品質(zhì)控制或制程的參考。
測試資料統(tǒng)計的日報表和月報表
圖表上半的長條圖用以顯示當(dāng)月份每日累積OPEN/SHORT，件不良率及整個測試的可接受率。圖表的下半派圖用以清楚明了地顯示當(dāng)日各不良原因的百分比。
網(wǎng)路即時監(jiān)控系統(tǒng)
如果把多臺I連到內(nèi)部網(wǎng)路系統(tǒng)，則每一臺I的測試統(tǒng)計資料都可以在網(wǎng)路上的任何一臺電腦上顯示，管理者可以很方便地查看生產(chǎn)缐的狀況。
網(wǎng)路錯誤訊息查詢系統(tǒng)
只要把I 和檢修站都連到內(nèi)部網(wǎng)路系統(tǒng)，則在檢修站就可以檢視到不良板的錯誤訊息，包括：打印機的印出訊息和錯誤圖形顯示。
待測板圖形顯示功能
可在待測板不良發(fā)生時，明白顯示不良件或焊點的位置，亦可在件位置查詢時顯示件的位置，此功能可大大縮短不良品檢修的時間和程式調(diào)適的時間。如果廠內(nèi)有網(wǎng)路連缐系統(tǒng)，則此圖形亦可在維修站的螢?zāi)簧巷@示出來。
