■主要探測指標:裂縫,黑點,夾雜(通常為SiC),隱裂,微晶
■硅塊電阻率:≥0.5Ohm*Cm(推薦)
■檢測時間:平均每個硅塊小于1分鐘,兩面小于20秒,一面小于5秒
■硅塊尺寸:210mmx210mmx420mm
■分辨率:320px*256px(早生產的產品)
640 px*512px(目前市場供應)
1280 px*1024px(2010年12月份批量生產)
2560 px*2048px(行業(yè),2011年1-3月份批量生產)
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