Dimension Icon 系列作為布魯克公司（Bruker AXS）原子力顯微鏡的旗艦產(chǎn)品，凝聚了多項(xiàng)行業(yè)的技術(shù)，是二十多年技術(shù)、客戶反饋和行業(yè)應(yīng)用的結(jié)晶。

Dimension Icon 的出現(xiàn)為科學(xué)和工業(yè)界在納米尺度的研究帶來了性的之作。
　　Dimension Icon 可以實(shí)現(xiàn)主要的掃描探針成像技術(shù)，其測試樣品尺寸可達(dá)：直徑210mm，厚度15mm.溫度補(bǔ)償位置傳感器使Z-軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級和埃級水平，并呈現(xiàn)出的高分辨率。對于大樣品、90微米掃描范圍的系統(tǒng)來說，這種噪音水平了的開環(huán)掃描高分辨率的原子力顯微鏡。的XYZ閉環(huán)掃描頭在不損失圖像質(zhì)量的前提下大大了掃描速度。探針和樣品臺的開放式設(shè)計(jì)使 Icon 可勝任各種標(biāo)準(zhǔn)和非標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)驗(yàn)。

　　Dimension Icon的硬件和軟件程度的利用了的布魯克AFM的模式和技術(shù)，如高次諧波共振模式等。并且，的不失真高溫成像技術(shù)采用對針尖和樣品同時加熱的方法，程度減少針尖和樣品之間的溫差，避免造成成像失真。
　　Dimension Icon 可廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)，物理，化學(xué)，微電子，生命科學(xué)等領(lǐng)域和學(xué)科。