紫外光纖光譜儀(線陣CCD)
使用固定式光柵和線陣Si探測(cè)器,波長(zhǎng)范圍是200-1100nm,比的通用選擇。
U4000
U2000+
U4000預(yù)配置光纖光譜儀
HR4000
HR2000+
HR4000CG
HR2000+CG
U650
便攜式光纖光譜儀
紫外光纖光譜儀(背照面CCD)
使用固定式光柵和背照面陣Si探測(cè)器,波長(zhǎng)范圍是200-1100nm,高量子效率和信噪比的選擇。
Maya2000PRO
QE65000
QE65000-ABS
QE65000-FL
紫外光纖光譜儀(線陣PDA)
使用Hamamatsu線陣PDA探測(cè)器,波長(zhǎng)范圍是200-1100nm,可達(dá)8000:1的信噪比。
S1024
近紅外光譜儀
使用Hamamatsu線陣InGaAs探測(cè)器,波長(zhǎng)范圍是900-2550nm.更有光柵提供高分辨率,供光通信測(cè)量使用。
NIRQuest
紅外光譜儀
使用轉(zhuǎn)動(dòng)式光柵和InGaAs、InAs、M或pyro-eleric探測(cè)器,可測(cè)量的波長(zhǎng)范圍是0.9um-12um.
SIR
熒光光譜儀
預(yù)配置版本的光譜儀,使用大狹縫和聚光透鏡等增強(qiáng)靈敏度,適合熒光探測(cè)等弱光測(cè)量的需求。
U4000FL
U2000-FLG
QE65000-FL
PbS/PbSe探測(cè)器陣列光譜儀
SM301/SM301-EX光纖光譜儀,256象元,覆蓋1-3um和1.5-5um范圍。
單色儀
光柵光譜儀
傳統(tǒng)光譜儀,使用轉(zhuǎn)動(dòng)光柵設(shè)計(jì),高,可用于單色儀或光柵光譜儀。
光柵光譜儀
雙色散模式單色儀MSA130
雙色散模式單色儀M833
ANDOR探測(cè)器
光柵光譜儀探測(cè)器。
CCD探測(cè)器
EMCCD探測(cè)器
ICCD探測(cè)器
InGaAs探測(cè)器
JY光譜系統(tǒng)
HORIBA JOBIN YVON光譜儀和探測(cè)器。
iHR光譜儀
CCD探測(cè)器
地物光譜儀
SPERAL EVOLUTION便攜式光譜儀、地物光譜儀、地物波譜儀。
使用光纖光譜儀組成各種系統(tǒng),滿(mǎn)足您的多種應(yīng)用需求,提供的解決方案。
分光光度計(jì)系統(tǒng)
使用集成的光譜儀和光源,組成一個(gè)類(lèi)似于分光光度計(jì)的系統(tǒng),方便吸光度測(cè)量需求。
通用系統(tǒng)
直連系統(tǒng)
光纖連接系統(tǒng)
氣體吸光度系統(tǒng)
熒光測(cè)量系統(tǒng)
使用熒光光譜儀,激發(fā)光源和樣品附件組成的系統(tǒng),適用于測(cè)量固體,液體以及毛細(xì)管中的熒光。
通用系統(tǒng)
熒光探頭
積分球熒光量子效率測(cè)量系統(tǒng)
透過(guò)率測(cè)量系統(tǒng)
光譜儀,光源和樣品附件組成的系統(tǒng),適用于鏡片的透過(guò)率測(cè)試,同樣也適合于化學(xué)中的吸收測(cè)量。
通用系統(tǒng)
OTS
積分球透反射率測(cè)量系統(tǒng)
反射率測(cè)量系統(tǒng)
光譜儀,光源和樣品附件組成的系統(tǒng),適用于鏡片等的反射率測(cè)量,同樣適用于反色的測(cè)量。
通用系統(tǒng)
輻射測(cè)量
測(cè)量太陽(yáng)光,太陽(yáng)光模擬器和發(fā)光光源的輻射光譜。
通用系統(tǒng)
光譜輻射計(jì)
JETI高、小型光譜輻射計(jì),可測(cè)量連續(xù)脈沖、單脈沖及連續(xù)光源,可以用于實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)環(huán)境中的測(cè)量。
Specbos 1201
日照強(qiáng)度計(jì)
膜厚測(cè)量
通過(guò)測(cè)量光在薄膜中的干涉光譜,計(jì)算得到薄膜的厚度?;蛘呤褂脵E偏儀。
反射膜厚測(cè)量
橢偏儀SpecEl
等離子監(jiān)控
電弧光測(cè)量
使用光譜儀和探頭測(cè)量等離子體,定性的分析元素成分和做過(guò)程控制。
通用系統(tǒng)
PlasCalc
LIBS元素分析
半定量系統(tǒng)
LIBS
定量系統(tǒng)LAMP
Labsphere UV2000
拉曼光譜儀
使用高靈敏度光譜儀,配合激光器和拉曼探頭,組成便攜式的拉曼光譜儀系統(tǒng)。
R3000
RSL-PLUS
QE65000系統(tǒng)
掃描拉曼系統(tǒng)

