●美國(guó)原裝高靈敏電制冷Si(Pin)探測(cè)器
●電制冷Si(Pin)探測(cè)器晶體面積15mm2分辨率<155eV
●全數(shù)字脈沖處理器技術(shù)
●優(yōu)異的峰背比、高的痕量分析靈敏度
●50KV,50瓦,自護(hù)X-射線管
●多濾光片智能識(shí)別技術(shù)
●鍍層和薄膜測(cè)量技術(shù)
●,操作簡(jiǎn)便的XRF軟件
主要特點(diǎn)
●分析元素范圍 Cl-U
●分析元素的濃度范圍 ppm—100%
●整機(jī)穩(wěn)定性連續(xù)8小時(shí)測(cè)RSD<0.25%
●RoHS/WEEE檢測(cè)時(shí)間100-120秒
●樣品類型:固體,液體,粉末,鍍層及其他
應(yīng)用領(lǐng)域:
●應(yīng)對(duì)RoHS&WEEE指令分析
●各種金屬膜厚度測(cè)量、工業(yè)鍍層厚度測(cè)量
●鹵素指令Cl元素分析
●礦石、原材料成份分析等
●磁性磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體,各種合金、貴金屬成份分析


