＊平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。
?。叫衅骄Ь哂懈叩钠矫嫘院推叫行?。
?。叫衅骄в糜跈z定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶共分四個系列，每個系列各分六組，每組四塊。
產(chǎn)品名稱平行平晶
功能：平行平晶用于干涉法測量千分尺、卡規(guī)和千分表等測量面平面度、平面平行度。
產(chǎn)品規(guī)格：
每組平行平晶共四塊，分四個尺寸系列組
測量范圍：組I系列：0〜25mm
組II系列：25〜50mm
組III系列：50〜75mm
組IV系列：75〜100mm
測量面上平面度偏差＜0.1μm
平面度局部偏差＞0.03μm
測量面平行度誤差：組I系列允差值：0.06μm
組II，III系列允差值：0.08μm
組IV系列允差值：0.1μm
平晶直徑φ30mm，φ40mm，φ40mm，φ50mm
?。叫衅骄Ь哂懈叩钠矫嫘院推叫行?。
?。叫衅骄в糜跈z定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶共分四個系列，每個系列各分六組，每組四塊。
產(chǎn)品名稱平行平晶
功能：平行平晶用于干涉法測量千分尺、卡規(guī)和千分表等測量面平面度、平面平行度。
產(chǎn)品規(guī)格：
每組平行平晶共四塊，分四個尺寸系列組
測量范圍：組I系列：0〜25mm
組II系列：25〜50mm
組III系列：50〜75mm
組IV系列：75〜100mm
測量面上平面度偏差＜0.1μm
平面度局部偏差＞0.03μm
測量面平行度誤差：組I系列允差值：0.06μm
組II，III系列允差值：0.08μm
組IV系列允差值：0.1μm
平晶直徑φ30mm，φ40mm，φ40mm，φ50mm
其他說明
| 組號 | 0-25 | 25-50 | 50-75 | 75-100 |
| 1 | 15.00,15.12 15.25,15.39 | 40.00,40.12 40.25,40.37 | 65.00,65.12 65.25,65.37 | 90.00,90.12 90.25,90.37 |
| 2 | 15.12,15.25 15.37,15.50 | 40.12,40.25 40.37,40.50 | 65.12,65.25 65.37,65.50 | 90.12,90.25 90.37,90.50 |
| 3 | 15.25,15.37 15.50,15.62 | 40.25,40.37 40.50,40.62 | 65.25,65.37 65.50,65.62 | 90.25,90.37 90.50,90.62 |
| 4 | 15.37,15.50 15.62,15.75 | 40.37,40.50 40.62,40.75 | 65.37,65.50 65.62,65.75 | 90.37,90.50 90.62,90.75 |
| 5 | 15.50,15.62 15.75,15.87 | 40.50,40.62 40.75,40.87 | 65.50,65.62 65.75,65.87 | 90.50,90.62 90.75,90.87 |
| 6 | 15.62,15.75 15.87,16.00 | 40.62,40.75 40.87,41.00 | 65.62,65.75 65.87,66.00 | 90.62,90.75 90.87,91.00 |
