詢價
- 類型：XRF
- 測量元素范圍：鈉（Na）到鈾（U）
- 元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
- 同時分析元素：一次性可測幾十種元素
- 測量時間：60秒-200秒
- 能量分辨率為：145±5eV
- 管壓：5KV-50KV
- 管流：50uA-1000uA
- 外形尺寸：660mm×510mm×350mm
產品介紹
EDX 4500HX熒光光譜分析儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。X熒光光譜分析儀是屬于大型光學精密一起。以前我國主要依靠進口光譜分析儀，進口的光譜分析儀價格昂貴，耗費國家大量外匯。所以一機都在75年組織了光電式光譜分析儀會戰(zhàn)，從此我國可以自己大量生產大型X熒光光譜分析儀。X熒光光譜分析儀結構雖然很復雜，主要由下面四部分組成：光源、分光器（又稱單色器）、接收器（又稱探測器）、輸出裝置。為了更好的利用儀器和得到滿意的測試結果，必須對儀器各主要部分的作用和原理有所了解。
產品優(yōu)點
1.采樣方式靈活，對于稀有和貴重金屬的檢測和分析可以節(jié)約取樣帶來的損耗。
2.測試速率高，可設定多通道瞬間多點采集，并通過計算器實時輸出。
3.對于一些機械零件可以做到無損檢測，而不破壞樣品，便于進行無損檢測。
4.分析速度較快，比較適用做爐前分析或現場分析，從而達到快速檢測。
5.分析結果的準確性是建立在化學分析標樣的基礎上。
技術參數
產品型號：EDX 4500H
產品名稱：X熒光光譜分析儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
同時分析元素：性可測幾十種元素
測量時間：30秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35%-70%
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg
標準配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數字多道技術
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
可靠的整體鋼架結構
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵
性能特點
高效超薄窗X光管，指標達到國際先進水平
新的數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000CPS，更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然
應用領域
X熒光光譜分析儀合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）
廠家介紹
江蘇天瑞儀器股份有限公司是生產X熒光測厚儀，液相色譜質譜儀（LCMS）,五金鍍層測厚儀，x射線測厚儀，ROHS檢測儀，手持式ROHS光譜儀，手持式合金分析儀，ROHS檢測設備，電鍍層測厚儀，五金鍍層測量儀，天瑞ROHS儀，X射線鍍層測厚儀。
