電子壽命及擴(kuò)散測(cè)試系統(tǒng) 型號(hào)：PSL-100 品牌:EKO
通常對(duì)于染料敏化電池（簡(jiǎn)稱為DSSC）材料研究的評(píng)估，大部分是在組裝成太陽(yáng)能電池后進(jìn)行的。為了太陽(yáng)能電池的轉(zhuǎn)換效率，須電池的短路電流（Isc）和開(kāi)路電壓（Voc）；眾所周知，電池內(nèi)電子轉(zhuǎn)換的特征對(duì)于這二者的影響為明顯。如果在DSSC多孔電內(nèi)的電子轉(zhuǎn)換過(guò)程能被確定，就可以在材料開(kāi)發(fā)過(guò)程中獲得更多細(xì)節(jié)上的指導(dǎo)，有利于加快開(kāi)發(fā)過(guò)程。
電子壽命和擴(kuò)散系數(shù)測(cè)量系統(tǒng)“PSL-100”測(cè)量電子轉(zhuǎn)換特征，電子擴(kuò)散系數(shù)（D）和電子壽命（τ），對(duì)于樣品尺寸大小的DSSC，基于SLIM-PCV（光電流和光電壓的步進(jìn)式光誘導(dǎo)瞬態(tài)測(cè)量）原理。
電子擴(kuò)散
“電子擴(kuò)散長(zhǎng)度”意即轉(zhuǎn)換電子從被光照激發(fā)到復(fù)合的距離。
換句話說(shuō)，如果DSSC多孔半導(dǎo)體電的厚度大于擴(kuò)散長(zhǎng)度，則的光激發(fā)電子不能被提取。
故，擴(kuò)散長(zhǎng)度可以用電子擴(kuò)散系數(shù)和電子壽命表述為：
SLIM-PCV方法
電子擴(kuò)散系數(shù)和電子壽命的測(cè)量，是通過(guò)步進(jìn)式輕微調(diào)節(jié)照射在染料敏化電池表面步進(jìn)式輕微調(diào)節(jié)的輻射量，然后測(cè)量電池輸出的短路電流或開(kāi)路電壓的瞬態(tài)響應(yīng)波形曲線，然后進(jìn)行指數(shù)擬合運(yùn)算（exp(-t/τ)）。
測(cè)量幾秒鐘，因此測(cè)量時(shí)不需要用考慮瞬態(tài)變化；相比于其他光電化學(xué)方法測(cè)量，可以在更短的時(shí)間獲得相同的測(cè)量結(jié)果，更。
另外，DSSC的電子擴(kuò)散系數(shù)和電子壽命通常與輻照有關(guān)。這樣，從這些數(shù)據(jù)中用“變化提取方法”測(cè)量電子密度，評(píng)估電子轉(zhuǎn)化特征。
技術(shù)指標(biāo)PSL-100
| 電壓： | AC 100[V]±10% |
| 頻率范圍： | 50(HZ)/60(HZ) |
| 功率： | 25 VA |
| 預(yù)熱時(shí)間： | 過(guò)30分鐘 |
| 外尺寸： | 480(W)×190(H)×350(D)(毫米) |
| 重量： | 10(公斤) |
測(cè)量控制模塊PSL-100-M
| 電子擴(kuò)散系數(shù)測(cè)量 | |
| 測(cè)量方法： | 當(dāng)前測(cè)量(電流/電壓的談話) |
| 轉(zhuǎn)化率： | 1.0000(mA)/1.0000(V) |
| 可衡量的Rabge： | -0.3000(mA)～+ 1.2000(mA) |
| A/D轉(zhuǎn)換速率： | 1:1 |
| 值數(shù)據(jù)速率： | ±0.005(mA) |
| 電子壽命測(cè)量 | |
| 測(cè)量方法： | 電壓測(cè)量 |
| 輸入阻： | 過(guò)109(Ω) |
| 可衡量的范圍： | -0.3000[V]～+ 1.2000[V] |
| A/D轉(zhuǎn)換速率： | 1:1 |
| 值數(shù)據(jù)錯(cuò)誤： | 在±0.005[V] |
| 電子密度測(cè)量 | |
| 電流-電壓曲線測(cè)量 | |
| 控制方法： | 偏見(jiàn)的潛在應(yīng)用方法 |
| 控制輸出阻： | 不到20(Ω) |
| 控制輸出設(shè)置范圍： | -0.3000[V]～+ 1.2000[V] |
| 控制輸出設(shè)置分辨率： | 0.0001[V] |
| 控制輸出設(shè)置錯(cuò)誤： | ±0.005[V] |
| 電壓測(cè)量單位 | |
| 測(cè)量方法： | 電壓測(cè)量 |
| 輸入阻： | 過(guò)109(Ω) |
| 電壓測(cè)量轉(zhuǎn)化率： | 1:1 |
| 電壓測(cè)量范圍： | -0.3000[V]～+ 1.2000[V] |
| A / D轉(zhuǎn)換速率： | 1:1 |
| 值數(shù)據(jù)錯(cuò)誤： | 在±0.005[V] |
| 電流測(cè)量單元 | |
| 測(cè)量方法： | 當(dāng)前測(cè)量(電流/電壓轉(zhuǎn)換) |
| 可衡量的范圍： | 4范圍(100mA,10mA 1mA,100μＡ) |
| 轉(zhuǎn)化率： | 電流范圍F.S. / 1.0000[V] |
| 可衡量的范圍： | 100 mA范圍:-30.000(mA)～+100.00(mA) 10mA范圍:-3.0000(mA)～+10.000(mA) 1 mA范圍:-0.3000(mA)～+1.0000(mA) 100μA范圍:-30.000[μA]～+100.00(μA) |
| A / D轉(zhuǎn)換速率： | 1:1 |
| 值數(shù)據(jù)錯(cuò)誤： | 100mA范圍:在±1.0(mA) 10mA范圍:在±0.05(mA) 1mA范圍: 在±0.005(mA) 100μA范圍:在±0.5(μA) |
| 通信規(guī)范 | |
| 溝通的方法： | 串行通信方法 |
| 通信端口： | U端口或rs - 232 c端口 ※推薦、使用U端口 |
| 通信速度： | 19200個(gè)基點(diǎn) |
激光基座PSL-100-O
| 通用規(guī)范 | |
| 外尺寸： | 803(W)×290(H)×303(D)(毫米) |
| 重量： | 50(公斤) |
| 光學(xué)部件(主要部分) | |
| 激光規(guī)范(標(biāo)準(zhǔn)光源) | |
| 激光技術(shù)應(yīng)用： | 直到MLX-D12-640-40 |
| 類： | 3B |
| 光學(xué)透鏡： | φ6.4非球面玻璃鏡片 |
| 激光波長(zhǎng)： | 660(nm)±10(nm) |
| 平凸透鏡規(guī)范 | |
| 鏡頭： | SLB-30-60P通過(guò)西格瑪高記 |
| 外尺寸： | φ30(mm)+ 0 ~ -0.1(毫米) |
| 焦點(diǎn)距離： | (毫米)60±1% |
激光操作單元PSL-100-L
| 通用規(guī)范 | |
| 外尺寸： | 150(W)×180(H)×280(D)(毫米) |
| 重量： | 3.0(公斤) |
| 電力供應(yīng)： | AC100V±10%或AC200V±10% |
| 頻率范圍： | 50HZ/ 60HZ |
| 電力消耗： | 小于6.3 VA |
| 預(yù)熱時(shí)間： | 過(guò)30分鐘 |
PSL-100軟件及驅(qū)動(dòng)
| 操作環(huán)境 | |
| 操作系統(tǒng)： | MS Windows 7 |
| HDD性能： | 大約10 GB |
| 內(nèi)存： | 過(guò)2 GB |
| 顯示分辨率： | 1280×1024像素 |
| 接口： | 過(guò)2個(gè)U端口 |
| 應(yīng)用程序 | |
| 測(cè)量項(xiàng)目： | 電子擴(kuò)散系數(shù)(D)測(cè)量 電子壽命(τ) 測(cè)量 電子密度(n)測(cè)量 電流-電壓曲線測(cè)量 |
| 數(shù)據(jù)分析： | 創(chuàng)建數(shù)據(jù)表 圖繪圖分析柱狀圖 短路電流密度vs。 電子擴(kuò)散系數(shù)測(cè)量 短路電流密度與電子壽命 電子密度和電子壽命 |
| 規(guī)范 | |
| 安裝條件： | 室內(nèi)只使用 |
| 操作溫度： | +10℃～+40℃ |
| 濕度： | 不到70%(無(wú)冷凝) |
激光光源：
EKO可為本產(chǎn)品配置不同的激光激發(fā)光源，以適應(yīng)不同的材料應(yīng)用。
實(shí)例觀測(cè)：
數(shù)據(jù)分析
通過(guò)改變輻照度，觀察電子轉(zhuǎn)換特征，從這些數(shù)據(jù)中，可以很容易。從而可以分析材料和工藝的影響。PSL-100的軟件，很直觀的可以看到這些數(shù)據(jù)。
若需要了解電子壽命及擴(kuò)散測(cè)試系統(tǒng)的詳細(xì)信息請(qǐng)致電：
北京旗云創(chuàng)科科技有限責(zé)任公司
BEIJING TOP FLAG TECHLOGY CO., LTD
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