GWJDN-4型高低溫介電溫譜測量系統(tǒng)

關(guān)鍵詞:四通道，溫度：-190℃-1000℃，120MHZ

GWJDN-4型四通道同屏高溫介電溫譜測量系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測量，并參考美國A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的安全；資料保存機(jī)制，當(dāng)遇到電腦異常瞬時斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗(yàn)數(shù)據(jù)，設(shè)備重新啟動后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)。用于分析寬頻、高低溫條件下樣品的介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線。可廣泛應(yīng)用于鐵電壓電陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1、   提供多方位的測量功能和多元化的價(jià)位, 擁有更出色的測量:

匹配國內(nèi)外先進(jìn)阻抗分析儀是采用當(dāng)前國際的自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，其0.05%的基本、最快達(dá)5.6ms的測試速度、10Hz-300MHz的頻率范圍及高達(dá)1GΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

2、 采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置。自動升溫降溫，測試功能強(qiáng)大

3、 四通道同時測量,提高效率,增加對比測試的精度;

材料與結(jié)構(gòu)匹配設(shè)計(jì)夾具,高低溫穩(wěn)定性好、高;溫介電頻譜測試功能；變溫阻抗測試功能；掃頻測試功能；

軟件：采用C#語言編寫，可視化程度高，自動測試，同時顯示四通道的測試數(shù)據(jù)，并圖形化。

4、  專用高頻測試線纜，更適合高頻測量：測試引線使用4端子對配置以擴(kuò)展測量端口，附帶BNC陽頭連接板，用于連接高溫爐的測試夾具，同時測試線采用高頻測試專用測試線，設(shè)計(jì)兩層屏蔽。更適合高頻介電參數(shù)測量。

5、  可以實(shí)現(xiàn)多種材料不同功能的測試，高溫介電，電阻測試等探測采用高精度鉑金電極，抗干擾能力強(qiáng)，測量精度高高溫爐加熱均勻，可實(shí)現(xiàn)多種氣氛環(huán)境下的測試

介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線，多種物理參數(shù)可實(shí)時測試

專用的分析和測試軟件，可以自行定義，保存數(shù)據(jù)

主要技術(shù)參數(shù)：

1、加熱范圍：  -190℃-1000℃

2、加熱方式：  雙傳感器

3、升溫速率：  10℃/min

4、溫度精度：  0.1℃

5、冷卻方式：  液氮

6、能否保護(hù)氣氛加熱：可以充氣氛

7、電極材料：  鉑銥金

8、測量功能：  阻抗各種功能

9、通道數(shù)：4通道

10、同時測試樣品數(shù)量：     四個樣品

11、測試頻率: 20HZ-120MHZ

12、可配套：ZJ-3型精密D33系數(shù)測儀，配套PZT-JH10/4型壓電極化裝置

13、無電極樣品尺寸      直徑小于40mm，厚度小于8mm

14、帶電極樣品尺寸      直徑小于26mm，厚度小于8mm

15、電極干擾屏蔽   電極引線帶同軸屏蔽，樣品平臺帶屏蔽罩

16、夾具升降控制   帶程序和手動控制，可更換夾具的電動升降裝置

17、熱電偶 熱電偶探頭與樣品平臺為同一熱沉，測控溫度與樣品溫度保持一致

18、軟件功能：自動分析數(shù)據(jù)，可以分類保存，樣品和測量方案結(jié)合在一起，生成系統(tǒng)所需的實(shí)驗(yàn)方案，輸出TXT、XLS、BMP等格式文件

20、測量方案    提供靈活、豐富的測試設(shè)置功能，包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合

21、接口方式：包括Keysight\WayneKerr\Tonghui等多種LCR接口，

20、外形尺寸    L360mm*W370mm*H510mm

21、凈   重          22KG

22、標(biāo)準(zhǔn)極化樣品：8片（10mm*1.5mm）

23、配套設(shè)備裝置：能夠配合ZJ-3和ZJ-6壓電測試儀進(jìn)行測量

24、配套設(shè)備裝置：可以配置10MM，20MM，30MM，40MM壓片夾具

測試儀器：

高溫介電測試系統(tǒng)可適配Agilent E4990A/E4294A/E4980A、Wayne Kerr 6500P/B、

Tonghui TH2838/TH2839/TH2826/TH2828/TH2829/TH2827等系列LCR表或阻抗分析儀，其他品牌型號也可定制開發(fā)

Agilent E4990A

·         五種頻率選擇；20 Hz 至 10/20/30/50/120 MHz，可升級

·         ±0.08%（典型值 ±0.045%）基本阻抗測量精度

·         25Ω m 至 40 MΩ 寬阻抗測量范圍（10% 測量精度范圍）

·         測量參數(shù)：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、復(fù)合 Z、復(fù)合 Y、VAC、Iac、VDC、Idc

·         內(nèi)置直流偏置范圍：0 V 至 ±40 V、0 A 至 ±100 mA

·         10.4 英寸彩色 LCD 觸摸屏上的 4 通道和 4 跡線

·         數(shù)據(jù)分析功能：等效電路分析、極限線測試

Agilent E4294A

覆蓋了很寬的測試頻率范圍(40hz至110mhz)，具有±0.08%的基本阻抗精度。其優(yōu)異的高q值/低d值精度使其能分析低損耗元件。其寬信號電平范圍可用于在實(shí)際工作條件下評估器件。測試信號電平范圍為5mv至1vrms或200ua至20marms，直流偏置范圍為0v至±40v或0ma至±100ma。先進(jìn)的校準(zhǔn)和誤差補(bǔ)償功能避免了進(jìn)行夾具內(nèi)器件測量時的測量誤差。agilent 4294a是適用于電子元件設(shè)計(jì)、論證、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試的強(qiáng)大工具。電路設(shè)計(jì)和開發(fā)工程師也能從它提供的性能和功能中受益。

Agilent E4980A

基本精度為0.1%

測試頻率為100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz
量程為20mV～1Vrms,以5mVrms分檔
具有測試信號電平監(jiān)視功能
高速測量:25ms
高速接觸檢查
大的電容測試量程
變壓器參數(shù)測量(供選用)

Wayne Kerr 6500P/B

簡易的TFT觸屏操作，10分鐘內(nèi)輕易上手

　　電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測試解決方案

　　30 ms超高速測試速度

　　等效Rdc 可高度精準(zhǔn)四線式測試，量測到0.01mΩ

　　0.05%基本1度

　　可內(nèi)建0-100mA +/- 40V，外加可至60A DC Bias

　　可將測試波形儲存成CSV格式，放大、縮小及MARKER功能

　　20Hz~120MHz，七種機(jī)型，可隨時升級 ，1升級到120MHz

　　直覺的用戶操作接口，USB、LAN、GPIB及HANDLER

　　可使用鼠標(biāo)及鍵盤操控，也可外接打印機(jī)及使用USB接口儲存數(shù)據(jù)

　　具等效電路仿真功能，內(nèi)建同頻率LCR Meter一臺

Tonghui TH29系列

測試頻率:20Hz-1MHz，分辨率:0.1nHz

基本精度:0.05%

測試速度:最快5.6ms/次

測試原理:自動平衡電橋

高穩(wěn)定性和一致性:高達(dá)15個測試量程配置