詢價
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
- 探測器：SDD探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發(fā)，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
江蘇天瑞儀器股份有限公司從事光譜（X熒光測厚儀、礦石分析儀、合金分析儀、ROHS分析儀，便攜式光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀ICP）、色譜、質(zhì)譜（氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀GCMS、液相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀LCMS、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀ICPMS）等分析測試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。 為電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、等眾多行業(yè)提供完善的行業(yè)整體解決方案。
化學鍍銀測厚儀：Thick800A
測定步驟：
步：新建SnPb-Cu鍍層厚度標準曲線
第二步：確定測試時間：40S
第三步：測試其重復性得出相對標準偏差
技術(shù)指標
化學鍍銀測厚儀型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
化學鍍銀測厚儀樣品測試注意事項
先要確認基材和各層鍍層金屬成分及鍍層元素次序，天瑞XRF熒光測厚儀多可以測5層金屬鍍層厚度 。
通過對鍍層基材的測定，確定基材中是否含有對鍍層元素特征譜線有影響的物質(zhì)，比如PCB印刷版基材中環(huán)氧樹脂中的Br 。
對于底材成分不是純元素的，并且同標準片底材元素含量不一致的，則需要進行基材修正，選用樣品所相似的底材進行曲線標定 。
標準配置
化學鍍銀測厚儀開放式樣品腔。
二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
天瑞儀器是分析儀器行業(yè)上市公司，公司包括研發(fā)部、技術(shù)部、生產(chǎn)部、國內(nèi)業(yè)務部及海外市場部、品管部、計劃部、采購部、倉管部、人力資源部、財務部、及董秘處和行政部等部門，且公司規(guī)模日益壯大。天瑞儀器不斷探究世界分析領域的前端。為客戶提供電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、等眾多行業(yè)提供更為完善的行業(yè)整體解決方案
