雷達(dá)物位計(jì)概述

對(duì)固體物料倉(cāng)（包括粉礦倉(cāng)）物位測(cè)量、工作穩(wěn)定的調(diào)頻物位計(jì)。適用于倉(cāng)內(nèi)結(jié)構(gòu)復(fù)雜（含有不可移除的障礙物）、倉(cāng)內(nèi)粉塵較多、物料反射弱等工況惡劣的現(xiàn)場(chǎng)。適用于對(duì)液體、漿料、顆粒料及塊料的物位進(jìn)行非接觸式連續(xù)測(cè)量，適用于溫度、壓力變化大；有惰性氣體及揮發(fā)存在的場(chǎng)合。采用微波脈沖的測(cè)量方法，并可在工業(yè)頻率波段范圍內(nèi)正常工作。波束能量較低，可安裝于各種金屬、 非 金屬容器或管道內(nèi)，對(duì)人體及環(huán)境均無(wú)傷害。

雷達(dá)物位計(jì)工作原理
物位計(jì)采用調(diào)頻連續(xù)波（FMCW）原理，利用發(fā)射信號(hào)與接收信號(hào)之間的頻率差來(lái)確定目標(biāo)距離。基于FMCW原理的物位計(jì)連續(xù)處理回波信號(hào)，所以在物位測(cè)量的準(zhǔn)確性、及時(shí)性以及穩(wěn)定性效果更佳。

根據(jù)多個(gè)現(xiàn)場(chǎng)的數(shù)據(jù)采集以及實(shí)驗(yàn)，功能完善的數(shù)據(jù)處理算法，建立了可靠的數(shù)學(xué)模型?？筛鶕?jù)現(xiàn)場(chǎng)倉(cāng)內(nèi)的實(shí)際情況采集相應(yīng)的數(shù)學(xué)模型，讓物位計(jì)更適應(yīng)現(xiàn)場(chǎng)物位的測(cè)量。

調(diào)頻連續(xù)波雷達(dá)原理圖

S：距離   C：光速   △f：差頻   B：掃頻帶寬   T：掃頻時(shí)間   

雷達(dá)物位計(jì)產(chǎn)品特點(diǎn)

1、業(yè)X波段固體物位計(jì)。X波段雷達(dá)兼顧穿透能力、抗干擾能力、測(cè)量精度以及反射特性等綜合性能指標(biāo)。大波束角檢測(cè)技術(shù)的突破使該技術(shù)得以從以往的高精度液位測(cè)量領(lǐng)域拓展到高性能固體物位測(cè)量領(lǐng)域。

2、量程150m，盲區(qū)0米，精度5mm，重復(fù)性0.5mm，分辨率0.3mm。

3、具有標(biāo)準(zhǔn)料位、高料位、低料位、平均料位，智能料位共5種料位檢測(cè)模式供用戶選擇，可對(duì)料倉(cāng)位進(jìn)行更全面的監(jiān)測(cè)。

4、操作使用極其便捷?？梢酝ㄟ^(guò)紅外遙控器、HART手持器、HART總線等手段對(duì)儀表進(jìn)行本地及遠(yuǎn)程設(shè)置及調(diào)試，并有高度智能化的設(shè)置向?qū)Чδ?，引?dǎo)用戶在5分鐘之內(nèi)即可完成對(duì)儀表的參數(shù)設(shè)置。

性能指標(biāo)

• 波束角：      18°

• 量程：           150m

• 盲區(qū)：           0m

• 精度：           ±5mm

• 重復(fù)性：       0.5mm

• 分辨率：       0.3mm

• 輸出信號(hào)：   4-20mA/HART，開關(guān)量輸入或輸出

• 電源：          220V 50Hz

• 適應(yīng)溫度：   -40～65℃

雷達(dá)物位計(jì)輸入

天線接收反射的微波脈沖并將其傳輸給電子線路，微處理器對(duì)此信號(hào)進(jìn)行處理，識(shí)別出微波脈沖在物料表面所產(chǎn)生的回波。正確的回波信號(hào)識(shí)別由智能軟件完成，精度可達(dá)到毫米級(jí)。距離物料表面的距離D與脈沖的時(shí)間行程T成正比：
D=C×T/2
其中C為光速
因空罐的距離E已知，則物位L為：
L=E-D

輸出
通過(guò)輸入空罐高度E（=零點(diǎn)），滿罐高度F（=滿量程）及一些應(yīng)用參數(shù)來(lái)設(shè)定，應(yīng)用參數(shù)將自動(dòng)使儀表適應(yīng)測(cè)量環(huán)境。對(duì)應(yīng)于4－20mA輸出。
測(cè)量盲區(qū)
盲區(qū)（BD）是從測(cè)量參考點(diǎn)到高物位時(shí)的介質(zhì)表面的小距離。

測(cè)量條件
注意事項(xiàng)
測(cè)量范圍從波束觸及罐低的那一點(diǎn)開始計(jì)算，但在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當(dāng)物位低于此點(diǎn)時(shí)無(wú)法進(jìn)行測(cè)量。
若介質(zhì)為低介電常數(shù)當(dāng)其處于低液位時(shí)，罐低可見，此時(shí)為保證測(cè)量精度，建議將零點(diǎn)定在低高度為C 的位置。
理論上測(cè)量達(dá)到天線尖端的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測(cè)量范圍的終值應(yīng)距離天線的尖端至少50mm。
對(duì)于過(guò)溢保護(hù)，可定義一段安全距離附加在盲區(qū)上。
小測(cè)量范圍與天線有關(guān)。
隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，但在一定的條件下是可以進(jìn)行測(cè)量的。