詢價(jià)
- 企業(yè)類型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：廈門
- 探測(cè)器制冷溫度：-5 ℃
- 光譜范圍：200-1100 nm
- 光譜分辨率：0.05 ~ 2 nm
- 光路結(jié)構(gòu)：非交叉 C-T
- 檢測(cè)器：2048 或 4096 像素
ATP5030/4是一款制冷型、高分辨率微型光纖光譜儀。該產(chǎn)品通過集成先進(jìn)的熱電制冷技術(shù)與獨(dú)特的光學(xué)設(shè)計(jì)，旨在滿足科研與工業(yè)領(lǐng)域中對(duì)光譜信號(hào)清晰度與穩(wěn)定性有較高要求的應(yīng)用場(chǎng)景，為精密光譜分析提供了可靠的硬件基礎(chǔ)。
技術(shù)特點(diǎn)與核心設(shè)計(jì)
該光纖光譜儀采用熱電制冷（TEC）技術(shù)，可將探測(cè)器核心溫度主動(dòng)穩(wěn)定控制在-5°C。這一設(shè)計(jì)有效降低了由溫度引起的暗電流與熱噪聲，從而有助于提升系統(tǒng)的信噪比和動(dòng)態(tài)范圍，為檢測(cè)微弱信號(hào)或分辨密集光譜特征提供了良好的條件。其光纖光譜儀光路基于奧譜天成自主研發(fā)的M型結(jié)構(gòu)進(jìn)行構(gòu)建，結(jié)合高像素密度的線陣探測(cè)器（2048或4096像素），使儀器能夠獲得較為清晰的光譜細(xì)節(jié)，滿足需要觀察光譜精細(xì)結(jié)構(gòu)的分析需求。
性能參數(shù)與操作特性
ATP5030/4光纖光譜儀的光譜響應(yīng)范圍覆蓋200納米至1100納米。儀器支持從0.1毫秒到256秒的寬范圍積分時(shí)間設(shè)置，用戶可根據(jù)光強(qiáng)條件靈活調(diào)整，以兼顧檢測(cè)速度與信號(hào)質(zhì)量。其內(nèi)置同步觸發(fā)控制電路，便于與外部脈沖光源（如激光器）實(shí)現(xiàn)時(shí)序同步。設(shè)備結(jié)構(gòu)緊湊，僅需單一的5V直流電源即可工作，并通過USB Type-C接口實(shí)現(xiàn)供電與高速數(shù)據(jù)傳輸，簡(jiǎn)化了系統(tǒng)連接與集成步驟。
主要應(yīng)用領(lǐng)域
憑借其低噪聲與高分辨率特性，該儀器適用于多個(gè)專業(yè)領(lǐng)域：
元素與等離子體光譜分析：作為激光誘導(dǎo)擊穿光譜（LIBS）及等離子體發(fā)射光譜系統(tǒng)的檢測(cè)模塊。
拉曼光譜檢測(cè)：用于拉曼光譜儀的譜線采集與分析。
光源特性研究：對(duì)激光器、LED等發(fā)光體的波長(zhǎng)、線寬及光譜純度進(jìn)行測(cè)量。
環(huán)境與工業(yè)過程監(jiān)測(cè)：集成于高精度紫外煙氣分析儀、在線水質(zhì)分析儀等設(shè)備。
材料光學(xué)分析：用于材料的反射、透射光譜檢測(cè)以及熒光光譜研究。
ATP5030/4制冷型微型光譜儀通過將溫度控制技術(shù)與優(yōu)化的光路設(shè)計(jì)相結(jié)合，為用戶在需要進(jìn)行細(xì)致光譜分析的場(chǎng)景中，提供了一個(gè)性能穩(wěn)定、集成便捷的檢測(cè)工具。
