詢價
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
- 探測器：Si-Pin探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發(fā)，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
江蘇天瑞儀器股份有限公司是一家專注于研發(fā)和生產(chǎn)各種分析儀器的企業(yè)，產(chǎn)品涵蓋X熒光鍍層測厚儀、直讀光譜儀、手持式光譜儀、手持式合金分析儀、氣相質(zhì)譜儀、液相質(zhì)譜儀、ROHS檢測儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、等離子體質(zhì)譜儀、手持式不銹鋼材料檢測光譜儀以及鍍層膜厚測試儀等。作為一家上市公司，總部位于江蘇省蘇州市昆山市，熱忱歡迎廣大客戶前來參觀考察。
x熒光電鍍鍍層測厚儀樣品測試的注意事項
在使用X熒光電鍍鍍層測厚儀之前，首先需要確認基材以及各層鍍層的金屬成分和鍍層元素的排列順序。天瑞XRF熒光測厚儀通常能夠測量多達五種金屬鍍層的厚度。
通過對鍍層基材的分析，確定基材中是否存在會影響鍍層元素特征譜線的物質(zhì)，例如PCB印刷電路板基材中的環(huán)氧樹脂中的溴（Br）。
對于底材成分不是純元素且與標準片底材元素含量不一致的情況，需要進行基材修正，并選擇與樣品相似的底材進行曲線標定。
X熒光電鍍層厚度測量儀銷售供應
X熒光電鍍層厚度測量儀的注意事項
開啟儀器電源時，請動作緩慢，避免用力過大，以防損壞按鍵。
在將樣品放入樣品腔時，必須確保樣品的干凈，避免塵埃 contaminate X光管和探測器窗口，這樣會導致測量不準確及探頭損壞。同時，操作時應小心翼翼（可以使用鑷子等工具取放樣品），以防損壞測量窗口的薄膜。
樣品蓋需要定期用酒精棉球進行清潔。
x熒光電鍍鍍層測厚儀在開機后需預熱30分鐘，接著進行初始化，才能開始正常的檢測操作。
在測量不同類型的樣品時，必須在程序欄中選擇相應的選項，以確保測量效果。
為了確保儀器正常運行，需要定期測試和調(diào)整儀器的各項參數(shù)。
x熒光電鍍鍍層測厚儀
技術(shù)指標
熒光電鍍層厚度測量儀型號：Thick 800A
元素分析的范圍涵蓋了從硫（S）到鈾（U）之間的所有元素。
可以同時分析超過30種元素，并且具有五層鍍層。
分析的含量通常在ppm到99.9%之間。
x熒光電鍍鍍層測厚儀鍍層的厚度通常在50微米以內(nèi)（各類材料可能有所不同）。
鍍金層厚度檢測儀可以選擇多個分析和識別模型。
互相建立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收算法
適用溫度范圍為15℃至30℃。
電源要求：交流220V±5V，建議配備交流凈化穩(wěn)壓電源。
外形尺寸：576（寬）×495（深）×545（高）毫米
樣品室的尺寸為：寬500毫米×深350毫米×高140毫米。
體重：90公斤
標準配置
x熒光電鍍鍍層厚度測量儀采用開放式樣品腔設(shè)計。
二維移動樣品平臺，探測器和X光管具備上下移動功能，以實現(xiàn)三維位移。
雙激光定位設(shè)備。
鉛玻璃防護罩。
x熒光電鍍鍍層測厚儀
高壓與低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機和噴墨打印機
公司獲得了多個榮譽稱號，包括“火炬計劃”、“江蘇省軟件企業(yè)”、“江蘇省科技創(chuàng)新示范企業(yè)”、“江蘇省規(guī)劃布局內(nèi)軟件企業(yè)”和“江蘇省光譜分析儀器工程技術(shù)研究中心”。X熒光光譜儀系列產(chǎn)品被認定為“新產(chǎn)品”和“江蘇省高新技術(shù)產(chǎn)品”。我們的產(chǎn)品種類繁多，能夠為環(huán)境保護、工業(yè)測試與分析等領(lǐng)域提供有效的解決方案。
