詢價
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號
- 探測器：FAST-SDD
- 電壓：220V
- 分辨率：129eV
- 原理：XRF
- 元素范圍：AL-U
鍍金電子元件厚度檢測儀的產(chǎn)品說明、技術(shù)規(guī)格和配置。
EDX2000A能量色散X熒光光譜儀（全自動微區(qū)膜厚測試儀）能夠?qū)ζ矫妗纪?、拐角和弧面等各類簡單及?fù)雜形狀的樣品進行快速而分析，滿足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)對非接觸微區(qū)鍍層厚度測試的需求。該儀器通過自動化的三維移動（X軸、Y軸和Z軸）以及雙激光定位和保護系統(tǒng)，實現(xiàn)了高效的測量。
詳情介紹
鍍金電子元件厚度測試儀天瑞儀器 EDX 2000A 是一款全自動的微區(qū)膜厚測試儀，以下是其詳細說明：
特點及優(yōu)勢
上照式設(shè)計：能夠適應(yīng)更多異形微小樣品的測試，如在半導(dǎo)體、芯片和PCB等行業(yè)中進行非接觸式微區(qū)鍍層厚度的測量。
信號采集效率顯著提高：采用全新光路設(shè)計，光程更短，與傳統(tǒng)光路相比，信號采集效率提升超過兩倍。
攝像頭配置出色：配備可變焦高精度攝像頭和距離補正系統(tǒng)，能夠滿足微小產(chǎn)品及臺階、深槽和沉孔樣品的測試需求。
鍍金電子元件厚度測試儀具有高效的測試能力：支持可編程的多點測試，能夠自動完成對多個樣品的多點測量，極大地提升了測試效率。同時，儀器配備數(shù)據(jù)校對系統(tǒng)，用戶無需擔(dān)心數(shù)據(jù)會突然發(fā)生變化。
硬件配置優(yōu)越：采用進口的高分辨率FAST SDD探測器，分辨率高達140eV，能夠解析每種元素的特征信號，特別適合處理復(fù)雜底材和多層鍍層。配備進口高功率大壓單元與進口大功率X光管，這樣可以保證信號輸出和激發(fā)的穩(wěn)定性，并降低故障率。高精度的自動化X軸、Y軸和Z軸三維聯(lián)動設(shè)計，使得對微小異型測試點的定位變得非常快速。
軟件界面設(shè)計人性化，操作簡單方便。曲線圖上有中文注釋，易于理解和上手。同時能夠?qū)崟r監(jiān)控儀器的硬件功能，讓用戶更加安心使用。
鍍金電子元件厚度測試儀的測試指標(biāo)
元素分析范圍包括從鉀（K）到鈾（U）之間的所有元素。
元素與鍍層分析能力：一次最多可以同時分析 24 種元素和 5 層鍍層。
鍍層的厚度范圍是0.005μm到50μm。
重復(fù)測量：重復(fù)測量的誤差可以控制在 2% 以內(nèi)。
長期工作穩(wěn)定性：為3%。
應(yīng)用領(lǐng)域
本產(chǎn)品適用于金屬鍍層的電鍍、化學(xué)鍍和熱鍍等各種鍍層厚度的分析與測量，包括電鍍液成分的測試、合金鍍層成分及厚度的分析，以及首飾的定性和半定量分析。其廣泛應(yīng)用于電子通信、航空航天新能源、電器設(shè)備、汽車制造、磁性材料、貴金屬電鍍以及高等院校和科研機構(gòu)等多個領(lǐng)域。
標(biāo)準(zhǔn)配置
包含開放式樣品腔、推拉式屏蔽罩、SDD探測器、信號檢測電子電路、探測器保護傳感器、計算機及噴墨打印機、精密二維移動樣品平臺、大行程升降測試框。
儀器參數(shù)
尺寸為485毫米（寬）×588毫米（深）×505毫米（高）。
體重：60公斤。
X射線源：射線管電壓可調(diào)范圍為5-50KV，電流為50-1mA可調(diào)，采用密閉式風(fēng)冷制冷方式。
準(zhǔn)直系統(tǒng)：標(biāo)配直徑0.2mm（可根據(jù)需求進行選配）。
濾光片：鋁質(zhì)濾光片（可根據(jù)需求選擇）。
鍍金電子元件厚度測試儀的樣品觀察配置包括：樣品由上方的 LED 燈進行垂直照明，觀察時使用彩色 CCD 攝像頭，放大倍數(shù)為 25 倍，視野范圍為 6×4.8mm。
自動對焦功能：高精度激光自動對焦。
電動XY高精度移動平臺：移動范圍為100mm（X軸）和100mm（Y軸），分辨率達到5μm，重復(fù)定位精度小于10μm，步進電機的步距角為1.8°，載重可達3kg（無傾斜情況下）。
Z軸升降平臺：升降范圍為0到140毫米。
電源輸入：交流220伏，±10%，5安，50/60赫茲。
