集成電路在線測(cè)試儀

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GT4040XP -Ⅱ    ICTF:  40th     V/I曲線:40th      價(jià)格：18500元

GT4080XP -Ⅱ    ICTF:  40th      V/I曲線:80th     價(jià)格：26000元

GT8080XP -Ⅱ   ICTF:  40*2th   V/I曲線:80th     價(jià)格：38000元

GT系列檢測(cè)儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。配合電腦使用，全部智能化。它利
用電腦來(lái)彌補(bǔ)人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原
理的情況下，對(duì)各種類(lèi)型的電路板進(jìn)行ASA分析或ICT測(cè)試，在線檢測(cè)元器件好壞，迅速檢
測(cè)到電路板上故障元器件。簡(jiǎn)捷經(jīng)濟(jì)地修好各種類(lèi)型電路板。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
◆先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)，強(qiáng)大的驅(qū)動(dòng)能力，任何故障原因的電路板皆可修好
◆友好簡(jiǎn)單的中文操作界面，不經(jīng)訓(xùn)練，任何人均可成為維修專(zhuān)家
◆無(wú)需電路原理圖，不必知道器件型號(hào)，對(duì)任何電路板皆可快速維修
◆40/40×2路數(shù)字電路測(cè)試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫(kù)
◆40/40×2（ASA）V/I，曲線分析測(cè)試功能
◆電路板測(cè)試存儲(chǔ)功能，被測(cè)板可與之比較
◆與進(jìn)口同類(lèi)儀器比較，性?xún)r(jià)比更優(yōu)，操作更方便
◆通用于各類(lèi)雙列直插式封裝芯片，可為大中規(guī)模集成電路提供分析測(cè)試
◆本功能亦可通過(guò)學(xué)習(xí)記錄，比較分析來(lái)測(cè)試

技術(shù)規(guī)格：

GT4040P/4080P/8080P 電路板故障檢測(cè)儀

GT系列檢測(cè)儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。配合電腦使用，全部智能化。它利用電

腦來(lái)彌補(bǔ)人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原理的

情況下，對(duì)各種類(lèi)型的電路板進(jìn)行ASA分析或ICT測(cè)試，在線檢測(cè)元器件好壞，迅速檢測(cè)到

電路板上故障元器件。簡(jiǎn)捷經(jīng)濟(jì)地修好各種類(lèi)型電路板。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

◆先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)，強(qiáng)大的驅(qū)動(dòng)能力，任何故障原因的電路板皆可修好

◆友好簡(jiǎn)單的中文操作界面，不經(jīng)訓(xùn)練，任何人均可成為維修專(zhuān)家

◆無(wú)需電路原理圖，不必知道器件型號(hào)，對(duì)任何電路板皆可快速維修

◆40/40×2路數(shù)字電路測(cè)試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫(kù)

◆40/40×2（ASA）V/I，曲線分析測(cè)試功能

◆電路板測(cè)試存儲(chǔ)功能，被測(cè)板可與之比較

◆與進(jìn)口同類(lèi)儀器比較，性?xún)r(jià)比更優(yōu)，操作更方便

◆通用于各類(lèi)雙列直插式封裝芯片，可為大中規(guī)模集成電路提供分析測(cè)試

◆本功能亦可通過(guò)學(xué)習(xí)記錄，比較分析來(lái)測(cè)試

全功能ASA+ICT測(cè)試器

   ASA（Analong signature Analysis）對(duì)元件每個(gè)管腳提供一個(gè)安全、低功率的掃描驅(qū)

動(dòng)電壓信號(hào)，以便產(chǎn)生一個(gè)阻抗性圖并在CRT上顯示、且可存儲(chǔ)，以備比對(duì)。所有測(cè)試都是

在靜態(tài)下（不加電）執(zhí)行，所以不會(huì)傷害元件。它不僅能快速掃描并存儲(chǔ)各類(lèi)IC每個(gè)管腳

V/I曲線圖形，并且對(duì)各類(lèi)分立元件如：電阻、電容等同樣有效。ICT（In circuit

Testing）它能把待測(cè)元件與PC資料庫(kù)內(nèi)相對(duì)應(yīng)的元件資料作邏輯功能測(cè)試比較，測(cè)試時(shí)可

在CRT上顯示元件管腳連接狀態(tài)，元件輸入管腳的輸入波形，同時(shí)顯示相應(yīng)輸出管腳的實(shí)測(cè)

波形及標(biāo)準(zhǔn)波形，以便判定IC邏輯功能好壞。此功能可快速測(cè)試IC好壞，也可測(cè)試分析，

還可識(shí)別不明型號(hào)的IC。

[GT]系列檢測(cè)儀檢測(cè)更加可靠準(zhǔn)確

■ 功能測(cè)試軟件設(shè)上拉電阻——方便集電極開(kāi)路門(mén)的測(cè)試 ■ 功能測(cè)試外供電源穩(wěn)定可

靠——各種大、中、小型被測(cè)電路板皆可測(cè)試 ■ 功能測(cè)試具有三態(tài)識(shí)別能力——可測(cè)三

態(tài)器件和IC負(fù)載能力下降故障 ■ V/I測(cè)試正負(fù)掃描電壓——同時(shí)檢查正/反向V/I曲線 ■

V/I測(cè)試六個(gè)掃描頻率——保證V/I曲線測(cè)試穩(wěn)定可靠 ■ V/I測(cè)試三種測(cè)試電壓幅度——確

保各類(lèi)器件的V/I測(cè)試

集成電路在線功能測(cè)試

    本功能采用后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù)，可在線判定IC邏輯功能是否正確，可測(cè)74系列、

4000/45000邏輯IC、75系列接口IC各種存儲(chǔ)器等千余種集成電路。

1、快速測(cè)試：直接顯示測(cè)試結(jié)果，迅速確定可疑IC 2、分析測(cè)試：顯示全部測(cè)試過(guò)程，測(cè)

試激勵(lì)。預(yù)期和實(shí)際響應(yīng)，幫助分析故障原因 3、器件識(shí)別：查找無(wú)標(biāo)記型號(hào)IC或同功能

不同型號(hào)的IC。

集成電路在線狀態(tài)測(cè)試

通過(guò)好壞板上相應(yīng)IC的狀態(tài)進(jìn)行比較，找出有故障的IC。

1、狀態(tài)學(xué)習(xí)：在線學(xué)習(xí)無(wú)故障IC的引腳關(guān)系，互連狀態(tài)和測(cè)試的激勵(lì)與響應(yīng)，并存入數(shù)據(jù)

庫(kù)中

2、狀態(tài)比較：同故障板上相應(yīng)IC在線進(jìn)行狀態(tài)比較，根據(jù)兩者差異判定IC好壞

3、狀態(tài)顯示：顯示存入電腦庫(kù)中的各IC的狀態(tài)資料。

集成電路離線功能測(cè)試

離線測(cè)試IC功能好壞，自動(dòng)識(shí)別未知型號(hào)的芯片

IC邏輯圖查詢(xún)

可查閱邏輯電路的邏輯功能圖，管腳圖及部分參數(shù)。

V/I曲線測(cè)試

    通過(guò)好壞板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗圈的異同判定故障節(jié)點(diǎn)及故障IC 1、曲線學(xué)習(xí)：在

線學(xué)習(xí)無(wú)故障板上各節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗曲線（V/I曲線），并存入數(shù)據(jù)庫(kù)中 2、曲線比較：同

故障板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗曲線進(jìn)行比較，根據(jù)差異大小及維修經(jīng)驗(yàn)判定與此節(jié)點(diǎn)相關(guān)

的IC是否損壞 3、曲線顯示：顯示已存入電腦庫(kù)中電路板上各個(gè)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗圖資料大

規(guī)模集成電路分析測(cè)試

網(wǎng)絡(luò)提取測(cè)試

    使用戶方便的測(cè)試出元器件之間的連接關(guān)系，輔助判斷芯片的好壞。實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)提取采

用了四種模式：

    1、探棒對(duì)探捧（“棒”—“棒”模式）  

    2、探捧對(duì)測(cè)試夾（“棒”—“夾”模式）

    3、測(cè)試夾對(duì)探捧（“夾”—“棒”模式）

    4、測(cè)試夾對(duì)測(cè)試夾（“夾”—“夾”模式）

開(kāi)發(fā)編譯

    TVED為每一塊電路的每一個(gè)子測(cè)試都安排了一個(gè)說(shuō)明文件。該說(shuō)明文件可以通過(guò)任何

一個(gè)文本編輯器建立，并按TVED要求轉(zhuǎn)換后即可與相應(yīng)子測(cè)試關(guān)聯(lián)起來(lái)，隨時(shí)用熱鍵查看

相應(yīng)說(shuō)明文件。

    1、TVED允許兩種建立測(cè)試圖形和方法

        a）在TVED圖形界面上直接建立  b）讀入DCL語(yǔ)言的編譯結(jié)果

    2、編輯測(cè)試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應(yīng)，不斷對(duì)測(cè)試圖形

加以調(diào)整、修改。

    3、4種測(cè)試方式：

        a）完整執(zhí)行一個(gè)測(cè)試  b）執(zhí)行一個(gè)測(cè)試的一部分c）循環(huán)執(zhí)行 d）單步運(yùn)行

型號(hào)     ICT4040P ICT4080P ICT8080P

通道     ICTF:  40thV/I曲線:40th   ICTF:  40thV/I曲線: 80th

         ICTF: 40×2thV/I曲線: 80th

補(bǔ)充：

GT4080P/8080P系統(tǒng)功能

·單個(gè)器件功能測(cè)試  ·IC狀態(tài)測(cè)試  ·VI曲線分析  ·PROM操作  ·LSI在線分析  ·數(shù)

據(jù)庫(kù)整理  ·系統(tǒng)維修日記

·器件端口特征曲線測(cè)試           ·使用原測(cè)試軟件 &