電導(dǎo)率儀

品牌

德國(guó)Zahner電化學(xué)工作站（Electrochemical workstation）

型號(hào)

Zennium,IM6

儀器介紹　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 Zahner 公司作為的電化學(xué)工作站的生產(chǎn)廠商,在原來(lái)的IM6ex的基礎(chǔ)上又推出Zennium型號(hào)。Zennium從硬件到軟件都有很大的提高，Zennium精度更高，頻率范圍更寬。Zennium的推出是德國(guó) Zahner的又一里程碑。

德國(guó)ZAHNER Zennium 電化學(xué)工作站。主機(jī)包括恒電位儀/恒電流儀和頻率發(fā)生器及分析儀。硬件結(jié)構(gòu)上為一體化設(shè)計(jì)，支持高頻率高輸入阻抗測(cè)試，具有強(qiáng)大的擴(kuò)展能力。軟件控制界面友好，功能強(qiáng)大，能滿足絕大多數(shù)電化學(xué)研究需要。主要應(yīng)用于化學(xué)與物理電源、功能材料、腐蝕與防護(hù)、電化學(xué)沉積、電化學(xué)分析及教學(xué)。

Zahner公司是世界知名的電化學(xué)儀器生產(chǎn)廠商,其生產(chǎn)的電化學(xué)工作站已廣泛的在我國(guó)科研，文教領(lǐng)域得到應(yīng)用。多年來(lái),環(huán)球公司致力于在中國(guó)推廣Zahner公司的先進(jìn)測(cè)試儀器，中科院所，清華大學(xué)，中國(guó)科技大學(xué)等多家單位均裝備了IM系列的電化學(xué)測(cè)試儀器。特別是近年來(lái)，中國(guó)的科技工作者使用IM6系列的儀器在燃料電池的研究中取得了優(yōu)異成績(jī)。最近Zahner公司又推出了一套完整的光電化學(xué)測(cè)試設(shè)備，可廣泛用于太陽(yáng)能電池、光電功能材料、光催化/光誘導(dǎo)反應(yīng)的研究。

德國(guó)Zahner電化學(xué)工作站,以其德國(guó)獨(dú)到的工藝和Zahner公司深厚的電化學(xué)功底成為同行中的佼佼者。技術(shù)參數(shù)

1.交流阻抗頻譜范圍：10uHz-8MHz( IM6)
2.交流阻抗頻譜范圍10uHz-4MHz ( Zennium)
3.電流 3A( IM6)
4.電流 2.5A(Zennium)
5.槽壓14V，偏壓+/-10V
6.USB接口，易于使用，與Windows操作系統(tǒng)完全兼容，支持的XP系統(tǒng)
7.不斷更新的操作軟件，功能強(qiáng)大，界面友好
8.特有網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用模塊，可支持儀器的遠(yuǎn)程啟動(dòng)與測(cè)量
9.應(yīng)用范圍：
交流阻抗測(cè)試和擬合
腐蝕研究，電化學(xué)噪聲。
可以進(jìn)行循環(huán)伏安；線性掃描伏安；線性極化曲線；動(dòng)態(tài)極化曲線；陽(yáng)極極化曲線等多種電化學(xué)實(shí)驗(yàn)。
PVI軟件：可以進(jìn)行恒電位、恒電流；動(dòng)電位、動(dòng)電流；計(jì)時(shí)庫(kù)侖、計(jì)時(shí)電位；電位、電流階躍；方波伏安等多種電化學(xué)實(shí)驗(yàn)。
C/E軟件：測(cè)量電容/阻抗隨電位變化關(guān)系曲線
CAD圖形編輯軟件：用于各種圖形的編輯處理。

 

主要特點(diǎn)

1.提供交流阻抗及多種常規(guī)電化學(xué)測(cè)試，交流阻抗譜寬在同類產(chǎn)品中。
2.先進(jìn)的非線性阻抗擬合技術(shù)，可最有效的表征測(cè)試體系；提供BV方程擬合工具，通過(guò)穩(wěn)態(tài)極化曲線可精確測(cè)定體系的基本反應(yīng)參數(shù)。
3.具有高輸入阻抗，大電流，可支持至100A電流
4.電化學(xué)噪音，多池多通道，序列測(cè)量等多個(gè)功能
5.特別設(shè)計(jì)的微分電容測(cè)試技術(shù)，完全消除了測(cè)試曲線的扭曲、毛刺現(xiàn)象
6.信噪比為同類產(chǎn)品，測(cè)試數(shù)據(jù)精確度位于前茅，重現(xiàn)性優(yōu)良
7.針對(duì)大電流測(cè)試，推薦遮斷電流法技術(shù)，有效的保持高頻區(qū)阻抗測(cè)試精度；特別設(shè)計(jì)的松弛伏安法（RV）使得涂層低頻區(qū)測(cè)試速度提高百倍
8.推出光電效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)，可精確檢測(cè)光-電流、光-電壓在不同條件下的變化，測(cè)試光電流效率、激發(fā)電子壽命及擴(kuò)散系數(shù)等