SST39VF200A-70-4C-EKE存儲(chǔ)器

　　型號(hào)：SST39VF200A-70-4C-EKE
　　品牌：SST
　　工作溫度范圍 0°C to + 70°C
　　封裝類型 TSOP
　　針腳數(shù) 48
　　工作溫度 0°
　　工作溫度 +70°C
　　電源電壓 3.6V
　　最小電源電壓 2.7V
　　表面安裝器件 表面安裝
　　重量 0.00003
　　存儲(chǔ)器類型 Flash, NOR
　　存儲(chǔ)器配置 128K x 16bit
　　存儲(chǔ)器容量 2Mbit
　　電源電壓范圍 2.7V to 3.6V
　　訪問時(shí)間 70ns
　　接口 Parallel
　　接口類型 Parallel
　　扇區(qū)類型 一致

　　NAND器件中的壞塊是隨機(jī)分布的。以前也曾有過消除壞塊的努力，但發(fā)現(xiàn)成品率太低，代價(jià)太高，根本不劃算。
　　NAND器件需要對(duì)介質(zhì)進(jìn)行初始化掃描以發(fā)現(xiàn)壞塊，并將壞塊標(biāo)記為不可用。在已制成的器件中，如果通過可靠的方法不能進(jìn)行這項(xiàng)處理，將導(dǎo)致高故障率。