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- 北京恒勝創(chuàng)新電子設(shè)備有限公司
- 經(jīng)營模式：工廠
- 聯(lián)系人： 章永 先生
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X光機透視儀
- 價 格：
- 電議
- 型 號：
- BJI-G Series
產(chǎn)品介紹
X光機透視儀
| 品牌 | 恒勝創(chuàng)新 | 型號 | BJI-G Series |
| 測量范圍 | 40.5*30.5mm | 測量對象 | 芯片、工業(yè)元器件、保險絲、熱敏電阻、IC卡、熱保護(hù)器等 |
| 測量精度 | 227Lp/cm | 分辨率 | 1620*1220px |
| 尺寸 | 210*255*270（mm） | 重量 | 2.7（kg） |
恒勝創(chuàng)新BJI-G SeriesX光機透視儀
可用于高清X射線X光無損檢測 芯片、電子元器件、電阻、電路等相關(guān)電子器件的X光機透視儀。
其他工業(yè)無損檢測
特點
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業(yè)界首創(chuàng)高精度、超高清X光機透視儀
X光機透視儀檢測透視每厘米內(nèi)可分辨出高達(dá)227線！
數(shù)字化X射線機 配備《恒勝創(chuàng)新工業(yè)無損檢測X射線機圖像處理系統(tǒng)》可對圖像進(jìn)行豐富的處理及打印透視圖像。
BJI-G Series對工業(yè)電子芯片的高清透視 輸出的圖像分辨率達(dá)到了1620*1220像素。
一塊約40毫米長的工業(yè)電子芯片經(jīng)過恒勝創(chuàng)新圖像采集系統(tǒng)的處理后 可放大近1000倍。
圖像灰度等級達(dá)到4600級，可完美清晰檢測各類電子元器件及芯片內(nèi)部狀態(tài)。
參數(shù)
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