| 品牌 | SKX熒光光譜儀 | 型號 | SK-EDX3000 |
| 測量范圍 | Na-U | 測量對象 | 固體,液體,粉末 |
| 測量精度 | 0.05% | 分辨率 | 155ev |
| 尺寸 | 305×389×66(mm) | 重量 | 65(kg) |
主要特點:
·高靈敏電制冷Si(Li)探測器技術(shù),儀器免維護和零費用運行,壽命達15年以上(可選用:液氮Si(Li) 探測器)
·極高的分辨率: 電制冷Si(Li) 探測器 晶體面積15mm2 分辨率<155ev
(可選用: 液 氮Si(Li) 探測器 晶體面積30mm2 分辨率<149ev)
·超大Si(Li) 晶體,極高的痕量分析的靈敏度,打破lng的檢測限壁壘X-光管
·50KV,50瓦,超強流端窗X-射線管,具有超強束流。高穩(wěn)定,壽命可達15年以上
·多濾光片技術(shù),8位濾光片可根據(jù)分析對象元素,有效探測.可清晰分辨相鄰
元素
數(shù)據(jù)采集
· 全數(shù)字脈沖處理器技術(shù),死時間達60%,以及優(yōu)異的峰背比,極大的提高分析速度及精度
· 采用多道(32位4096道)脈沖分析器,極大的提高分析精度及其速度
其他
· 超大樣品室,可容納305mm×389mm×66mm的樣品(增高室可選215mm或371mm)
· 全自動校準,自動監(jiān)測,自動報警系統(tǒng),完全計算機控制
· 鍍層和薄膜測量技術(shù), 具有無標樣分析測厚技術(shù)
· 方便快捷的運輸和移動
· 高性能,操作簡便WinTrace軟件
技術(shù)指標:
·分析元素范圍 Na-U
· 分析元素的濃度范圍 ppm—100%
· 整機穩(wěn)定性連續(xù)8小時測RSD<0.25%
· FP無標樣分析軟件,無標樣條件下誤差小于1%。減少對標樣的依賴性
· ROHS/WEEE檢測時間100-120秒
· 樣品類型: 固體,液體,粉末,濾渣,鍍層及其他
應(yīng)用領(lǐng)域:
· 應(yīng)對RoHS & WEEE 指令分析
· 各種金屬膜厚度測量、工業(yè)鍍層厚度測量
· 氣溶膠顆粒濾膜, 刑偵以及痕量分析
· 土壤、催化劑、礦石、原材料成份分析等
· 營養(yǎng)添加劑 ,各種油品成份分析等
· 磁性磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體,各種合金、貴金屬成份分析
售后服務(wù):
1、儀器整機保修3年,終身提供維修服務(wù)。
2、全國范圍內(nèi),客戶故障信息最遲5小時內(nèi)響應(yīng),根據(jù)實際狀況,12—72小時內(nèi)技術(shù)人員上門服務(wù)。