| 主要應(yīng)用范圍: ROHS有害元素檢測 材料分析和鍍層厚度(膜厚)測量 |
| 鍍液分析、黃金等貴金屬鑒定 | X射線管: 50W(4-50KV 0 -1.0mA)標(biāo)配 |
| 探測器: 硅鋰半導(dǎo)體探測器 | 濾光器: 一次濾光 |
| 準(zhǔn)直器: Ф8mm、Ф3mm、Ф2mm、Ф1mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm、Ф0.1mm, 多種準(zhǔn)直器可選 |
| 樣品觀察: CCD高精度彩色攝像頭 | 對焦系統(tǒng): 利用旋鈕視覺對角 |
| 測量方向: 從下向上 | 樣品臺: 固定測量臺,XY可移動樣品臺 |
| 可測元素: K到U | 測試時(shí)間: 鍍層厚度:10-100s |
| 元素含量:60-300s | 元素含量分析指標(biāo):分析范圍:1PPM-99.99% |
| 準(zhǔn)確度:5% | 精確度:0.1% |
| 檢出限:1PPM | 鍍層厚度的檢測指標(biāo):準(zhǔn)確度:層5%,第二層10% |
| 精確度:0.1% | 檢出限:0.01μm |
| 測試軟件: 基本參數(shù)法 | 定性功能: 自動標(biāo)示存在元素 |
| 定量功能: 出廠前完成標(biāo)定曲線,客戶直接測試,無需標(biāo)樣 |
| 報(bào)告結(jié)果: 自動生成 | 數(shù)據(jù)處理: MS-EXCEL |