| 品牌 | 美國布魯克BRUCKER | 型號 | S1 TURBOSD |
| 類型 | 合金元素分析儀器 | 測試范圍 | 能夠分析S、P、Al, Mg, Si,測量元素范圍可低至Mg(12) |
| 測量時間 | 2~5秒 | 測量精度 | 相對2% |
| 電源電壓 | 交、直流供電;2塊充電鋰電池,(V\HZ) | 適用范圍 | 可測量的基體:工具鋼,低合金鋼,不銹鋼,鈷合金,鎳合金,銅合金,鈦合金,鋁合金,鋯合金,鎢合金,鋅合金,鎂合金,鋯合金等 |
手持式X熒光光譜儀-測量Al\Mg\Si
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幣得(上海)機電科技有限公司
Peter(Shanghai)Electromechanical Technology Co.,Ltd.
型號:S1 TURBOSD
品牌中的精英,精品中的!
快速、高效、準(zhǔn)確;材料分析、廢料分撿、牌號識別,特別是Al、Mg、Si測量的最理想工具?! ?/strong>
S1 TURBOSD是臺配置了XFlash®硅漂移探測器(SDD)的手持X射線熒光光譜儀,檢測器能量分辨率高達(dá)140eV,大幅度地提高了分析速度和靈敏度。能夠在空氣模式下,無需真空或氦氣沖洗即可測量鋁合金中的Mg、Si,鎳合金中的Al以及鋼材中的Si、S、P。
可測量的基體:工具鋼,低合金鋼,不銹鋼,鈷合金,鎳合金,銅合金,鈦合金,鋁合金,鋯合金,鎢合金,鋅合金,鎂合金,鋯合金等
優(yōu)點 無損、定量分析 快速、便攜、可靠 能夠分析S、P、Al, Mg, Si 可編輯用戶數(shù)據(jù)庫 測量元素范圍可低至Mg(12) 微軟實時系統(tǒng)(MS CE)軟件提供圖譜分析 高靈敏度,可檢測低至PPM的微量元素 PXRF軟件還具有定性和定量分析功能,控制光管的電壓和電流,使之適用于大范圍的元素測量。 NASA/Bruker共有專利-無真空-無氦氣消耗,精度可靠
功能模塊 定量分析牌號識別混料識別合格與否判定圖譜顯示
應(yīng)用領(lǐng)域 石油化工軍工 航空、航天鋼鐵電站、電廠 鍋爐壓力容器機械制造與加工金屬回收與分類貴金屬 RoHS檢測(玩具、塑料等)礦石土壤其它
技術(shù)規(guī)格 | |
| 重量 | 1.5kg |
| 尺寸 | 30cm(L)x10cm(W)x28cm(H) |
| 激發(fā)源 | X射線管,Ag靶,40kV |
| 檢測器 | XFlash®硅漂移檢測器(SDD), 檢測速度快;能量分辨率高:145eV, 計數(shù)率:100 kcps |
| 操作系統(tǒng) | HP掌上電腦:Windows Mobile5.0 Bruker 專用軟件 |
| 冷卻系統(tǒng) | Peltier 電子冷卻系統(tǒng) |
| 電源 | 交、直流供電;2塊充電鋰電池,可連續(xù)工作8-12小時 |
| 工作條件 | 溫度范圍:-20℃~+55℃;濕度范圍:0~95% |
| 電池充電器 | 交流充電器:110/220V,50/60Hz |
| 計算機/顯示器 | 240x320彩顯; 65,536像素; 背景光可調(diào); 觸摸屏 |
| 測量模式 | 牌號識別、定量分析、顯示測量譜線、合格與否判定 |
| 數(shù)據(jù)傳輸 | USB,無線藍(lán)牙,SD卡 |
| 數(shù)據(jù)存儲 | 主機:512MB 存儲卡:CF/SD卡,2GB,能存儲幾十萬個牌號和測量數(shù)據(jù) |
| 安全 | 密碼保護,設(shè)有多級安全鎖 |
| 運輸箱 | 減震、抗壓、防水、密封儀器箱 |
| 支持語言 | 包括中、英文在內(nèi)的12種語言(用戶自選) |
| 質(zhì)保期獲得證書 | 整機2年 CE、TUV、ISO9001,IECEE |