復(fù)合式三坐標(biāo)測量機(jī)UD422

概況： 主要用于機(jī)械、汽車、航空、軍工、模具、光學(xué)等行業(yè)中的箱體、機(jī)架、齒輪、凸輪、蝸輪蝸桿、葉片、曲線、曲面、電子元器件、線路板、電器開關(guān)、接插件、塑料及膠制品、蠟?zāi)?、?biāo)準(zhǔn)放大圖等的測量。  
 
技術(shù)參數(shù)： 1、主機(jī)重量：200kg。 2、外形尺寸：1200×1100×1500mm。 3、測量范圍：400×200×200mm。 4、允許工件重量:玻璃工作臺20kg。5、示值誤差：E≤（2.5+L/200)μm； 6、探測誤差：R≤2.8μm 7、長度測量系統(tǒng):Renishaw精密光柵尺。 8、分辨率：0.1μm /0.5μm 9、探測系統(tǒng):Renishaw測頭系統(tǒng)/CCD非接觸式探測系統(tǒng)/激光掃描探測系統(tǒng) 10、物鏡：高品質(zhì)測量物鏡 11、控制系統(tǒng):PC總線DSP三軸矢量控制系統(tǒng) 12、光源系統(tǒng)：玻璃工作臺/高精度同軸平行底光源/頂光源（可選環(huán)光源） 13、驅(qū)動(dòng)系統(tǒng):直流伺服DC-Servo 14、工作壓力：（0.4-0.6)MPa 15、電源:220V±5%,50/60Hz,1000W。 16、使用環(huán)境:溫度(20±2)℃（帶溫度修正）； 濕度55%-65%。   
 
其他： 將現(xiàn)代的光學(xué)測頭、機(jī)械式測頭及激光掃描測頭集成于同一臺三坐標(biāo)測量機(jī)上，綜合各種測頭的技術(shù)特點(diǎn)，可完成幾乎所有的幾何測量任務(wù)。光學(xué)測頭主要是通過高精度CCD數(shù)字?jǐn)z像頭，將被測物體放大后，利用的圖象信息處理技術(shù)，可編程控制光學(xué)照明技術(shù)，實(shí)現(xiàn)對工件的自動(dòng)掃描尋邊，表面點(diǎn)自動(dòng)聚焦采集，自動(dòng)測圓、自動(dòng)對比。在對微小尺寸、薄片及刀口輪廓、易變形或不能接觸的工件，工件表面圖形、字符等方面的測量具有其優(yōu)越性。激光掃描測頭主要利用高精度的數(shù)控系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)在測量時(shí)對工件表面的自動(dòng)跟蹤，用于對任意曲面的掃描測量。