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千分尺綜合檢定架
- 價(jià) 格：
- 電議
- 型 號(hào)：
- 千分尺綜合誤差檢具
產(chǎn)品介紹
千分尺綜合檢定架
| 序號(hào) | 名稱 | 規(guī)格 |
| 1 | SLC數(shù)顯量儀測力計(jì) | 用于表類，測微類，儀器類等測微類量具測力的檢定 |
| 2 | SG雙色金屬電刻機(jī) | 對各類工，夾，刃，量，模具及各種金屬材料和非金屬材料進(jìn)行刻字，編號(hào) |
| 3 | CF-I光控退磁機(jī) | 用于量具及小型工作件的退磁，具有光電自動(dòng)控制 |
| 4 | ZS-I量具自動(dòng)清洗機(jī) | 用于各種量具，量塊，表類的清洗 |
| 5 | CWJ系列測微計(jì)座 | 用于測量工件的幾何形狀誤差和零件相互位置的正確性，并可用比較法測量長度 |
| 6 | 千分尺綜合檢定架(三項(xiàng)檢具) | 用于測量外徑千分尺軸向竄動(dòng)，絲桿徑向擺動(dòng)和兩測量面偏位 |
| 7 | 外徑千分尺平行度誤差檢具 | 用于外徑千分尺平行度誤差的檢定（50-1000mm,） |
| 8 | 內(nèi)徑百分表專用環(huán)規(guī) | 內(nèi)徑量表專用環(huán)規(guī)（一套6個(gè)，6-100mm）功能:用于校對時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)件、內(nèi)徑表校對時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)件及一般內(nèi)徑比較儀的校對件 |
| 9 | 齒厚卡尺綜合誤差檢具 | 主要用于齒厚卡尺綜合誤差檢定。規(guī)格：5*40mm 12*50mm 18*50mm 35*50mm |
| 10 | 橡膠硬度測量支架 | 用于裝夾橡膠硬度計(jì)單表來測量橡膠樣品的硬度值 |
| 11 | LT-II量具退磁器 | 用于量具及小型工件的退磁 |
| 12 | LY-I量具兩用研磨機(jī) | 可同時(shí)研磨外徑千分尺測量面及游標(biāo)卡尺外量爪平面 |
| 13 | QF-I千分尺研磨機(jī) | 用于研磨外徑千分尺測量面，平行性 |
| 14 | QY-I千分尺絲桿研磨機(jī) | 用于研磨，修復(fù)千分尺絲桿 |
| 15 | QF-I公法線千分尺研磨機(jī) | 用于公法線千分尺兩測量面的研磨，具有三速調(diào)速，自控時(shí)間 |
| 16 | EK-III游標(biāo)卡尺研磨機(jī) | 用于研磨游標(biāo)卡尺外量爪的測量面，具有三速調(diào)速，自控時(shí)間 |
| 17 | EK-III雙頭游標(biāo)卡尺研磨機(jī) | 可同時(shí)研磨兩把游標(biāo)卡尺的外量爪平面 |
| 18 | BK卡尺端面研磨機(jī) | 用于修磨游標(biāo)卡尺測量端面 |
| 19 | EK游標(biāo)卡尺校整器 | 用于擠壓游標(biāo)卡尺的內(nèi)外量爪 |
| 20 | 大千分尺示值誤差檢定架 | 用于檢定大千分尺示值誤差 |
| 21 | CZ大市場放大工作鏡 | 用于計(jì)量部門，電子工業(yè)，精密儀器工業(yè)裝配，檢驗(yàn)，修理，帶有照明裝置 |
| 22 | SQ-I千分表示值檢定儀 | 它用于檢定千分表，內(nèi)徑千分表、杠桿千分表的示值誤差和回程誤差。 |
| 23 | SB-3百分表檢定儀 | 用以對鐘表式百分表、內(nèi)徑百分表、杠桿百分表進(jìn)行檢定。 |
| 24 | 百分表變動(dòng)性、徑向力檢具 | |
| 25 | 千分尺支架 | 外徑千分尺檢定修理專用夾座支架 |
| 26 | 游標(biāo)卡尺錯(cuò)位量及外徑千分尺檢定支架 | 用于游標(biāo)卡尺及千分尺的檢定 |
| 27 | 千分尺研磨器 | 0-100mm，0-300mm |
| 28 | 游標(biāo)卡尺研磨器 | 20-50mm |
| 29 | 千分尺縮孔器 | Ф6 Ф6.5 Ф8 |
| 30 | 百分表縮孔器 | Ф4 Ф4.5 Ф5 |
| 31 | 千分尺壓離線糾正器 | 本糾正器采用螺旋推力原理，專門修復(fù)千分尺微分筒壓離線故障，是工礦計(jì)量室必備的修理工具。其操作使用簡單、實(shí)用、效益高。 |
| 32 | 平行平晶 | 平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件。平面直徑(mm) 30、45、60、80、100、150、200、250、300 |
| 33 | 平面平晶 | 平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。組Ⅰ(0-25mm)，組Ⅱ(25-50mm)，組Ⅲ(50-75mm)，組Ⅳ(75-100mm) |
| 34 | 量塊艾利點(diǎn)支承架 | 適用于測長儀、測長機(jī)和臥式光學(xué)計(jì)上支承125～1000mm大量塊檢測； 亦能支承(Φ8～Φ14)mm的圓柱形被測件。組Ⅰ(125-175mm)，組Ⅱ(200-250mm)， 組Ⅲ(300-500mm)，組Ⅳ(600-1000mm) |
| 35 | 四棱直尺 | 長度:175,200,225,400,500精度等級(jí):1 |
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