目視熔點(diǎn)儀

1.

目視熔點(diǎn)儀   型號(hào)；HA-WRR

特點(diǎn)：
　　 測(cè)定晶體物資的熔點(diǎn)以確定其純度。主要用于藥物、染料、香料等晶體有機(jī)化合物熔點(diǎn)之測(cè)定。測(cè)量方法完全符合藥典標(biāo)準(zhǔn)?？赏瑫r(shí)測(cè)三根樣品，自動(dòng)計(jì)算初、終熔平均值。采用LED作為照明光源，持久耐用，一目了然. 可以測(cè)有色顏色偏深樣品。直接觀察熔化過程,是按藥典規(guī)定的熔點(diǎn)檢測(cè)方法而設(shè)計(jì).
主要技術(shù)參數(shù)：
    熔點(diǎn)測(cè)量范圍：40-280℃
    熔點(diǎn)顯示最小示值：0.1℃
    線性升溫速率：0.5, 1.0, 1.5, 3.0(℃/min)
    測(cè)量溫度準(zhǔn)確率：＜200℃時(shí)：±0.5℃ ≥200℃時(shí)：±0.8℃
    重復(fù)性(偏差)：0.3℃
    質(zhì)量：12.5kg

2.

汽車專用 汽車示波器 型號(hào)：QC-MT3500A/B

設(shè)備型號(hào)：QC-MT3500A（2通道）
設(shè)備型號(hào)：QC-MT3500B（4通道）

適用范圍：發(fā)動(dòng)機(jī)二次點(diǎn)火分析，發(fā)動(dòng)機(jī)傳感器信號(hào)測(cè)試，各類電子信號(hào)測(cè)試。

功能簡(jiǎn)介：
各類信號(hào)波形測(cè)試；
二次點(diǎn)火波型測(cè)試及分析；
數(shù)字電表功能；

配置描述：　
QC-MT3500A
　 雙通道示波測(cè)試；
雙通道數(shù)字電表功能；
雙通道二次點(diǎn)火測(cè)試；
標(biāo)配儀器手提包一個(gè)；
可選配獨(dú)立點(diǎn)火測(cè)試附件；
可選配穿剌測(cè)試夾。
QC-MT3500B
　 雙通道示波測(cè)試；
雙通道數(shù)字電表功能；
四通道二次點(diǎn)火測(cè)試；
標(biāo)配四通道獨(dú)立點(diǎn)火測(cè)試附件；
標(biāo)配儀器手提箱一個(gè)；
可選配穿剌測(cè)試夾。

3.

四探針電阻率測(cè)試儀/四探針電阻率儀/方阻測(cè)試儀/方阻儀/四探針電阻率測(cè)定儀（自動(dòng)測(cè)試臺(tái)+帶軟件）  型號(hào)：KDK-KDY-1

四探針電阻率/方阻測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱電阻率測(cè)試儀）是用來測(cè)量半導(dǎo)體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測(cè)量?jī)x器。它主要由電氣測(cè)量部份（簡(jiǎn)稱：主機(jī)）、測(cè)試架及四探針頭組成。
本儀器的特點(diǎn)是主機(jī)配置雙數(shù)字表，在測(cè)量電阻率的同時(shí)，另一塊數(shù)字表（以萬分之幾的精度）適時(shí)監(jiān)測(cè)全程的電流變化，免除了測(cè)量電流/測(cè)量電阻率的轉(zhuǎn)換，更及時(shí)掌控測(cè)量電流。主機(jī)還提供精度為0.05%的恒流源，使測(cè)量電流高度穩(wěn)定。本機(jī)配有恒流源開關(guān)，在測(cè)量某些箔層材料時(shí)，可免除探針尖與被測(cè)材料之間接觸火花的發(fā)生，更好地保護(hù)箔膜。儀器配置了本公司的專利產(chǎn)品：“小游移四探針頭”，探針游移率在0.1～0.2%。保證了儀器測(cè)量電阻率的重復(fù)性和準(zhǔn)確度。本機(jī)如加配HQ-710E數(shù)據(jù)處理器，測(cè)量硅片時(shí)可自動(dòng)進(jìn)行厚度、直徑、探針間距的修正，并計(jì)算、打印出硅片電阻率、徑向電阻率的百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均習(xí)庋。給測(cè)量帶來很大方便。
2、主機(jī)技術(shù)能數(shù)
（1）測(cè)量范圍：
可測(cè)電阻率：0.0001～19000Ω?cm
可測(cè)方塊電阻：0.001～1900Ω?□
（2）恒流源：
輸出電流：DC 0.001～100mA 五檔連續(xù)可調(diào)
量程：0.001～0.01mA
0.01～0.10mA
0.10～1.0mA
1.0～10mA
10～100mA
恒流精度：各檔均低于±0.05%
（3）直流數(shù)字電壓表：
測(cè)量范圍：0～199.99mV
靈敏度：10μV
基本誤差：±（0.004%讀數(shù)+0.01%滿度）
輸出電源：≥1000ΩM
（4）供電電源：
AC 220V±10% 50/60 Hz 功率：12W
（5）使用環(huán)境：
溫度：23±2℃ 相對(duì)濕度：≤65%
無較強(qiáng)的電場(chǎng)干擾，無強(qiáng)光直接照射
（6）重量、體積：
主機(jī)重量：7.5kg
體積：365×380×160（單位：mm 長(zhǎng)度×寬度×高度）

備注：
等級(jí)測(cè)量時(shí)（測(cè)電阻率），精度<3%
電氣測(cè)量時(shí)（測(cè)電阻），精度在0.3%以內(nèi)

備注：
儀器包括：主機(jī)一臺(tái)；測(cè)試架（包括臺(tái)面）一個(gè)；四探針頭1個(gè)；軟件

4.

便攜式四探針電阻率測(cè)試儀 四探針電阻率測(cè)試儀 四探針電阻率檢測(cè)儀 四探針電阻率測(cè)定儀 型號(hào)：KDK-KDY-1A

概述
便攜式電阻測(cè)度儀是用來測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國(guó)際及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。
它主要由電器測(cè)量部份（主機(jī)）及四探頭組成，需要時(shí)可加配測(cè)試架。
為減小體積，本儀器用同一塊數(shù)字表測(cè)量電流及阻率。樣品測(cè)試電流由高精寬的恒流源提供，隨時(shí)可進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保電阻率測(cè)量的準(zhǔn)確度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產(chǎn)品檢測(cè)。對(duì)1～100Ω?cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測(cè)量瓿差不超過±3%，在此范圍內(nèi)達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)一級(jí)機(jī)的水平。
測(cè)量范圍：
可測(cè)量 電阻率：0.01～199.9Ω?cm。
可測(cè)方塊電阻：0.1～1999Ω/口
當(dāng)被測(cè)材料電阻率≥200Ω?cm數(shù)字表顯示0.00。
（2）恒流源：
輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔
10mA量程：0.1～1mA 連續(xù)可調(diào)
10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào)
恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1%
適合測(cè)量各種厚度的硅片
（3） 直流數(shù)字電壓表
測(cè)量范圍：0～199.9mv
靈敏度：100μv
準(zhǔn)確度：0.2%（±2個(gè)字）
（4） 供電電源：
AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W
（5） 使用環(huán)境：
相對(duì)濕度≤80%
（6） 重量、體積
重量：2.2 公斤
體積：寬210×高100×深240（mm）
（7）KD探針頭
壓痕直徑：30/50μm
間距：1.00mm
探針合力：8±1N
針材：TC

5.

單晶少子壽命測(cè)試儀 少子壽命測(cè)試儀 型號(hào)：GZ-LT-2