博曼半導體X-RAY膜厚儀 Bowman博曼膜厚測試儀適合于對微細表面積或鍍層的測量。測量更小、更快、更薄MicronX 比現(xiàn)有其它的XRF儀器可以測量更小的面積、更薄的鍍層和更加快速。這是由包括準直器、探測器、信息處理器和計算機等部件在內的一整套系統(tǒng)完成的。博曼半導體X-RAY膜厚儀 Bowman博曼膜厚測試儀可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Br，等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。Bowman博曼膜厚儀應用于.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個領域.讓客戶滿意，為客戶的價值是金東霖追求的目標，因為我們堅信，客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍圖。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Br，等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。Bowman博曼膜厚儀應用于.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個領域.讓客戶滿意，為客戶的價值是金東霖追求的目標，因為我們堅信，客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍圖。
