美國半導(dǎo)體PCB板膜厚儀應(yīng)用領(lǐng)域:黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測;金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;貴金屬加工和飾加工行業(yè);銀行、飾銷售和檢測機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。
快速、的分析:
大面積正比計數(shù)探測器和博曼儀器50瓦微聚焦X射線光管(X射線光束強(qiáng)度大、斑點小,樣品激發(fā)佳)相結(jié)合,提供靈敏度
簡單的元素區(qū)分:
通過次級射線濾波器分離元素的重疊光譜
性能優(yōu)化,可分析的元素范圍大:
預(yù)置800多種容易選擇的應(yīng)用參數(shù)/方法
卓越的長期穩(wěn)定性:
自動熱補(bǔ)償功能測量儀器溫度變化并做修正,穩(wěn)定的測試結(jié)果
例行進(jìn)行簡單快 速的波譜校準(zhǔn),可自動檢查儀器性能(例如靈敏性)并進(jìn)行要的修正
堅固耐用的設(shè)計
可在實驗室或生產(chǎn)線上操作
堅固的工業(yè)設(shè)計
美國半導(dǎo)體PCB板膜厚儀結(jié)構(gòu)緊湊、堅固耐用、用于質(zhì)量控制的的臺式X射線熒光分析設(shè)備,提供簡單、快速、的鍍層厚度測量和材料分析。
產(chǎn)品特點:
即放即測!
通過自動定位功能,放置樣品后需幾秒,便能自動對準(zhǔn)觀察樣品焦點。
10秒鐘完成50nm的薄金鍍層測量!
以的設(shè)計實現(xiàn)微小區(qū)域下的高靈敏度,即使在微小準(zhǔn)直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度地膜厚測量的。
無標(biāo)樣測量!
將薄膜FP軟件進(jìn)一步擴(kuò)充,即使沒有厚度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)也能進(jìn)行高的測量。也可簡單地測量多鍍層膜和合金膜樣品。
通過廣域觀察系統(tǒng)更方便選擇測量位置!
通過廣域觀察系統(tǒng),能夠從畫面上的樣品整體圖(250×200mm)中方便地指定測量位置
如果您有什么問題或要求,請您聯(lián)系我們。您的任何回復(fù)我們都會高度重視。深圳市金東霖祝您工作愉快!







