ST4080-OSP　
　　非接觸、非損壞、的OSP鍍層厚度測(cè)量　
　　操作快捷、簡(jiǎn)單，無(wú)需樣品制備工序　
　　直接在線(xiàn)檢測(cè)實(shí)際產(chǎn)品　
　　自動(dòng)繪制OSP鍍層厚度三維分布指示圖　
　　自動(dòng)測(cè)試平均厚度　
　　
　　ST4080-OSP介紹　
　　ST4080-OSP儀器通過(guò)進(jìn)行PCB／PWB上OSP鍍層厚度的完整性、性及膜層形態(tài)的定量分析，進(jìn)而檢測(cè)OSP鍍層的應(yīng)用性?！?
　　實(shí)時(shí)檢測(cè)PCB／PWB上OSP鍍層厚度?！?
　　在OSP鍍層表面864×648μm的測(cè)試區(qū)域內(nèi)同時(shí)測(cè)量單個(gè)面積為1.35μm×1.35μm區(qū)域的OSP鍍層厚度?！?
　　在OSP鍍層表面86.4×64.8μm的測(cè)試區(qū)域內(nèi)同時(shí)測(cè)量單個(gè)面積為0.135μm×0.135μm區(qū)域的OSP鍍層厚度?！?
　　檢測(cè)分析的鍍層厚度范圍在0.035－3μm?！?
　　繪制OSP鍍層厚度三維分布圖?！?
　　可在PCB板上選定特定區(qū)域針對(duì)OSP鍍層厚度進(jìn)行的質(zhì)量監(jiān)控、失效分析以鍍層質(zhì)量?！?
　　光譜范圍：420nm－640nm　
　　自動(dòng)測(cè)試平均厚度　
　　
　　ST4080-OSP檢測(cè)原理　
　　ST4080-OSP儀器通過(guò)分析可見(jiàn)光譜中不同波長(zhǎng)的光譜分別在銅箔表面和OSP鍍層表面上反射后形成的新的關(guān)于波長(zhǎng)的數(shù)據(jù)信息來(lái)測(cè)量OSP鍍層的厚度。從OSP鍍層表面反射的光線(xiàn)與從基層銅箔表面反射的光線(xiàn)相互干涉從而形成新的干涉圖譜。該圖譜會(huì)形成與光強(qiáng)相關(guān)的振幅曲線(xiàn)，ST4080-OSP儀器通過(guò)分析該曲線(xiàn)的振幅和頻率以確定OSP鍍層厚度和完整性?！　?
　　ST4080-OSP的特點(diǎn)　
　　在OSP鍍層表面864×648μm的測(cè)試區(qū)域，同時(shí)測(cè)量單個(gè)面積為1.35μm×1.35μm區(qū)域的OSP鍍層厚度。　
　　在OSP鍍層表面86.4×64.8μm的測(cè)試區(qū)域，同時(shí)測(cè)量單個(gè)面積為0.135μm×0.135μm區(qū)域的OSP鍍層厚度?！?
　　OSP鍍層的實(shí)際附著情況可以通過(guò)三維厚度分布圖進(jìn)行清晰顯示?！?
　　實(shí)時(shí)檢測(cè)實(shí)際產(chǎn)品上OSP鍍層厚度，無(wú)需樣品制備工序?！?
　　ST4080-OSP儀器測(cè)量技術(shù)對(duì)接受測(cè)試的PCB／PWB產(chǎn)品沒(méi)有任何不利、破壞影響。　
　　可在PCB／PWB產(chǎn)品生命周期的不同階段進(jìn)行檢測(cè)，以監(jiān)控OSP鍍層在生產(chǎn)和儲(chǔ)存過(guò)程中可能產(chǎn)生的不良變化?！?
　　ST4080-OSP儀器可實(shí)時(shí)檢測(cè)PCB／PWB上OSP鍍層厚度和質(zhì)量。