深圳鍍層測厚儀、膜厚儀、X-ray測厚儀
　　新型CMI900系列即時分析儀代表了牛津儀器（OXFORD INSTRUMENTS）鍍層厚度測量和材料成份分析技術(shù)的重大飛躍。軟件和硬件領(lǐng)域的新進(jìn)步了我們X線系列產(chǎn)品的性能。CMI900系列能夠測量薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。
　　區(qū)別材料并測量氮化鈦鍍層。CMI900系列分析儀能夠即時分析黃金和其它貴屬。印刷電路板和電子元件制造商以及金屬表面處理廠家也可以從我們測量鍍層厚度和成份的技術(shù)中獲益。
　　像我們的儀器一樣，這個系列的儀器也由牛津儀器集團(tuán)提供技術(shù)支持。我們在售前和售后都提供卓越的服務(wù)。
　　測量和材料分析系統(tǒng)軟件
　　Oxford X線熒光系統(tǒng)都配備有Oxford Smartlink FP系統(tǒng)操作軟件包。這是一種基于windows的綜合性基本參數(shù)軟件程式。
　　
　　規(guī)格簡介
　　無標(biāo)準(zhǔn)效準(zhǔn)：Oxford支持使用標(biāo)準(zhǔn)以解決順應(yīng)性和系統(tǒng)優(yōu)化問題
　　包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體
　　5層/15種元素/普通元素效正
　　同時為多達(dá)15種元素進(jìn)行成份分析
　　貴屬分析和金純度檢查
　　材料與合金元素分析
　　材料鑒定與區(qū)別
　　
　　吸收測量方式
　　液體分析：分析液體中的金屬，如電鍍液
　　系統(tǒng)自動調(diào)整和效正：效正X線導(dǎo)管、探測器和電子設(shè)備的變化
　　光譜計數(shù)速率峰值位移效正
　　重疊熒光峰值數(shù)字峰值反卷
　　定性光譜分析元素ID.同時輕松自如地查看和比較多達(dá)四個光譜
　　Oxford統(tǒng)計數(shù)字和產(chǎn)生器LE（輕型）
　　Oxford SmartLink補(bǔ)充軟件系列
　　Oxford統(tǒng)計數(shù)字和產(chǎn)生器
　　配備數(shù)據(jù)庫的Oxford統(tǒng)計數(shù)字和產(chǎn)生器。

其他說明

基本分析功能		采用基本參數(shù)法校正,牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供要的標(biāo)準(zhǔn)樣品
		可檢測元素范圍:元素周期表上22元素~92元素,即Ti~U
		可以同時測5層鍍層,同時分析15種元素,共存元素校正
		貴屬檢測,如Au  kara評價
		材料和合金元素的分析
		多達(dá)4個樣品的光譜同時顯示和比較
		元素光譜定性分析
校正功能		系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能,自動消除系統(tǒng)漂移
操作語言		中文(繁,簡體),英語,日語,韓語,法語,德語,西班牙語,俄語