熒光分析儀 X-Strata920是一款率、快速的鍍層厚度測(cè)量及材料分析設(shè)備。
X-Strata920在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出卓越的分析能力,可進(jìn)行多鍍層厚度的測(cè)量。X-Strata920為這些行業(yè)提供了:
以更的過(guò)程控制來(lái)生產(chǎn)力
有助電鍍過(guò)程中的生產(chǎn)成本小化、產(chǎn)量化
快速地分析珠寶及其他合金
快速分析多達(dá)4層鍍層
經(jīng)行業(yè)的技術(shù)和性,每年都帶來(lái)收益
操作簡(jiǎn)單,要簡(jiǎn)單的培訓(xùn)
其他說(shuō)明
| 主要規(guī)格 | 規(guī)格描述 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| X射線激發(fā)系統(tǒng) | 垂直下照式X射線光學(xué)系統(tǒng) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 空冷式微聚焦型X射線管,Be窗 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶;任選靶材:W,Mo,Ag等 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 功率:50W(4-50kV,0-1.0mA) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 裝備有射線光閘 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 二次X射線濾光片:3個(gè)位置程控交換,多種材質(zhì),多種厚度的二次濾光片任選 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 準(zhǔn)直器系統(tǒng) | 單準(zhǔn)直器組件 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 多準(zhǔn)直器自動(dòng)控制組件:多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
圓形,矩形和多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選(紅色為常用的):
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| 測(cè)量斑點(diǎn)尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時(shí),小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>準(zhǔn)直器) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 在12.7mm聚焦距離時(shí),測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm<即圓形12mil>準(zhǔn)直器) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 樣品室 | 開槽式樣品室 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 樣品臺(tái)尺寸 | 610mm x 610mm | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| XY軸移動(dòng)范圍 | 標(biāo)準(zhǔn):152.4 x 177.8mm<程控> | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Z軸程控移動(dòng)高度 | 43.18mm | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| XYZ軸控制方式 |
多種控制方式任選: XYZ三軸程序控制; XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制; XYZ三軸手動(dòng)控制 |
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| 樣品觀察系統(tǒng) |
高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng),標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍. 50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選. |
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| 激光自動(dòng)對(duì)焦功能 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置 |
IBM計(jì)算機(jī) 佳能或愛普生彩色噴墨打印機(jī) |
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| 分析應(yīng)用軟件 |
操作系統(tǒng):Windows XP中文平臺(tái) 分析軟件包:SmartLink FP軟件包 |
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| 測(cè)厚范圍 | 可測(cè)定厚度范圍:取決于您的具體應(yīng)用. | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 基本分析功能 | 采用基本參數(shù)法校正.牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品; | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 樣品種類:鍍層; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 可檢測(cè)元素范圍:Ti22 –U92; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 可同時(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素校正; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 貴金屬檢測(cè),如Au karat評(píng)價(jià); | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 材料和合金元素分析; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 材料鑒別和分類檢測(cè); | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較; | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 元素光譜定性分析. | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 調(diào)整和校正功能 | 系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整和校正功能,自動(dòng)消除系統(tǒng)漂移 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 測(cè)量自動(dòng)化功能 | 鼠標(biāo)激活測(cè)量模式:"Point and Shoot" | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量模式:隨機(jī)模式,線性模式,梯度模式,掃描模式,重復(fù)測(cè)量模式 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 測(cè)量位置預(yù)覽功能 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 樣品臺(tái)程控功能 | 設(shè)定測(cè)量點(diǎn) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 測(cè)量位置預(yù)覽(圖表顯示) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 | 平均值,標(biāo)準(zhǔn)偏差,相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差,值,小值,數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍,數(shù)據(jù)編號(hào),CP,CPK,控制上限圖,控制下限圖 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 任選軟件:統(tǒng)計(jì)編輯器允許用戶自定義多媒體書 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 數(shù)據(jù)分組,X-bar/R圖表,直方圖 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)功能 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 系統(tǒng)監(jiān)測(cè)功能 |
Z軸保護(hù)傳感器 樣品室門開閉傳感器 |
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