用戶還能根據(jù)對(duì)教學(xué)/科研不同的要求,選擇3μm-100μm不同范圍的掃描器,以及高分辨CCD觀測(cè)系統(tǒng)和高樣品X-Y移動(dòng)平臺(tái),使操作更加方便、。
同我們MicroNano 系列產(chǎn)品一樣,這款機(jī)型還可以根據(jù)用戶需要,選購(gòu)相應(yīng)的功能模塊,將功能擴(kuò)展至原子力顯微鏡模式、磁力顯微鏡模式。
技術(shù)指標(biāo) :
掃描模式:STM恒流/恒高模式掃描;隧道電流-針尖偏壓(I-V)曲線測(cè)量;隧道電流-間隙(I-Z)曲線測(cè)量;針尖修飾(脈沖)
樣品尺寸:≤Φ10mm
樣品厚度:≤5mm
掃描范圍:標(biāo)準(zhǔn)配置6μm×6μm
分辨率:X-Y向0.1nm;Z向0.01nm
XYZ控制:雙12-bit D/A(相當(dāng)于20位)
數(shù)據(jù)采樣:雙12-bit A/D (相當(dāng)于20位)
掃描速率:20000 P/S
掃描角度:0~360°
圖像采樣點(diǎn):256×256 / 512×512
馬達(dá)控制:線動(dòng)螺紋+自動(dòng)馬達(dá),行程<10mm,<0.1μm
計(jì)算機(jī)接口:標(biāo)準(zhǔn)并行口
配套大的MicroNano SPM 2.1軟件系統(tǒng)
可選配件及功能模塊:
3μm×3μm,20μm×20μm,50μm×50μm,100μm×100μm規(guī)格掃描器
高分辨CCD觀測(cè)系統(tǒng)
高樣品X-Y移動(dòng)平臺(tái)
MicroNano AFM-II型原子力顯微鏡功能模塊
MicroNano AFM-III型輕敲模式原子力顯微鏡功能模塊
MicroNano MFM-I型磁力顯微鏡功能模塊

