用戶還能根據(jù)不同的科研要求,選擇3μm-100μm不同范圍的掃描器,以及高分辨CCD觀測系統(tǒng)和高樣品X-Y移動平臺,使操作更加方便、。
同我們MicroNano 系列產(chǎn)品一樣,這款機型還可以根據(jù)用戶需要,選購相應(yīng)的功能模塊,將功能擴展至磁力顯微鏡模式。
技術(shù)指標:
掃描模式:STM恒流/恒高模式掃描/ I-V曲線測量/I-Z曲線測量/針尖修飾(脈沖)
AFM接觸/非接觸/側(cè)向力/輕敲模式形貌/劃移掃描/F-Z曲線
樣品尺寸:≤Φ10mm
樣品厚度:≤5mm
掃描范圍:標準配置6μm×6μm
分辨率:STM(X-Y向0.1nm;Z向0.01nm)
接觸模式AFM(X-Y向0.2nm;Z向0.03nm)
輕敲模式AFM( x,y方向0.2 nm,z方向0.1nm)
XYZ控制:雙12-bit D/A(相當于20位)
數(shù)據(jù)采樣:雙12-bit A/D (相當于20位)
掃描速率:20000 P/S
掃描角度:0~360°
圖像采樣點:256×256 / 512×512
馬達控制:線動螺紋+自動馬達,行程<10mm,<0.1μm
計算機接口:標準并行口
配套大的MicroNano SPM 2.1軟件系統(tǒng)
可選配件及功能模塊:
3μm×3μm,20μm×20μm,50μm×50μm,100μm×100μm規(guī)格掃描器
高分辨CCD觀測系統(tǒng)
高樣品X-Y移動平臺
MicroNano MFM-I型磁力顯微鏡功能模塊

