大型樣品室,分析型物鏡,可同時接配EDS/WDS/EBSD,在觀察精細形貌同時,做化學成分和晶體結構定性定量分析。五軸馬達驅動樣品臺,渦輪分子泵真空系統(tǒng),由酷塞目[COXEM]NanoStation計算機導航自動操作,輕松自如。
CX-200TA標配SE探測器,觀察表面精細形貌形態(tài);可選配BSE探測器,觀察材料成分反差像,同時可擴展低真空觀察模式,非導電樣品可直接觀察;可選配全套的X射線微區(qū)分析附件(EDS、WDS,EBSD)原位實現化學成分定性定量,及微區(qū)晶體結構定性定量分析;可選配+CCD樣品室監(jiān)控附件。
技術指標:
分辨率:
3.0nm(30kV,SEI)10nm(3KV,SEI)
4.0nm(30kV,BSEI)
放大倍數:10x~300,000x
加速電壓 0.5kV~30kV
電子:三級自給偏壓,偏壓電阻可自動/手動調節(jié),預對中發(fā)叉式鎢絲陰
樣品室:內徑φ210mm,可接配EDS,BSE,WDS EBSD等分析附件。
樣品臺及行程:計算機導航全自動機械對中樣品臺
X:65㎜,Y:40㎜,Z:5~65㎜,T:-20°~+90°,R:360°
真空系統(tǒng):帶護的自動高真空系統(tǒng),渦輪分子泵260升/秒+旋片式機械泵100L/min
真空度實時顯示。
高真空:樣品室處真空度7.5x10-5 Torr,
低真空:樣品室 1-270Pa







