Q998是我司根據(jù)市場(chǎng)需要，推出的一款FPC柔性板測(cè)試儀，可滿足業(yè)界目前對(duì)FPC柔性板常規(guī)元件、發(fā)光二管亮度、按鍵測(cè)試、有源器件供電測(cè)試輸出電壓電流的測(cè)試需求。
◆短的數(shù)秒鐘內(nèi)，全檢出組裝電路板（loaded PC board）上件-電阻、電容、電感、電晶體、二體、穩(wěn)壓二體、光偶器、繼電器等件，是否在我們?cè)O(shè)計(jì)的規(guī)格內(nèi)運(yùn)作。
◆先期找出制程不良所在，如漏件（missing part）、折腳（bending）、短路（short）、錫橋（bridge）、反向（miss-oriented）、錯(cuò)件（wrong part）、開路（open）、焊接不良等問(wèn)題，回饋到制程的。
◆述故障或不良資訊以印表機(jī)印出測(cè)試結(jié)果，包括故障位置、件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值，以供維修人員參考?？梢越档腿藛T對(duì)產(chǎn)品技術(shù)依賴度，不需對(duì)產(chǎn)品線路了解，照樣有維修能力。
配備 EC Jet 測(cè)試技術(shù)，電解電容性測(cè)試：
以來(lái)，電解電容性（Polarity）測(cè)試一直是品保人員心中的痛。電解電容的反插在PCB上形同潛藏的不，不知何時(shí)有爆裂的危險(xiǎn)。傳統(tǒng)I對(duì)電解電容性測(cè)試可測(cè)率30~50%，不但測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，且漏判率高，而采用人工目視檢查亦同樣耗時(shí)而不。
針對(duì)實(shí)裝電路板電解電容性和并聯(lián)電容漏件測(cè)試，提出整體解決方案，可測(cè)率趨近于100%，測(cè)試速度快而，真正解決您生產(chǎn)線電解電容測(cè)試的問(wèn)題。針對(duì)電解電容，可測(cè)率趨近100%固態(tài)爆電解電容性趨近100%測(cè)試并聯(lián)電解電容漏件測(cè)試
強(qiáng)大的板示功能（Board View）
測(cè)試時(shí)可即時(shí)圖形顯示不良元件、腳位及針點(diǎn)位置，編輯時(shí)可隨點(diǎn)隨選或手動(dòng)輸入件編號(hào)、腳位、短/開路不良群組、網(wǎng)點(diǎn)列表等，方便問(wèn)題查找及維修。
五線式測(cè)試技術(shù)，可測(cè)四端元件
傳統(tǒng)二線、三線測(cè)試技術(shù)，均只能作較粗略之量測(cè)，易造成量測(cè)的角。本公司機(jī)種采用五線式（5 wires）測(cè)試技術(shù)（2 wires信號(hào)，2 wires測(cè)量表頭，1 wire Guarding），可快速、量測(cè)。
ATPD自動(dòng)測(cè)試程式除錯(cuò)
ATPD自動(dòng)測(cè)試程式除錯(cuò)（Automatic Testing Program Debug），大幅節(jié)省DUT測(cè)試程式制作時(shí)間。
完善統(tǒng)計(jì)分析報(bào)表，監(jiān)控生產(chǎn)品質(zhì)
針對(duì)被測(cè)板可作每日、每月或特定期間之測(cè)試資料統(tǒng)計(jì)分析。根據(jù)不良件、不良針點(diǎn)排行，能很快找到生產(chǎn)問(wèn)題點(diǎn)所在，地如針床品質(zhì)、DUT品質(zhì)等生產(chǎn)問(wèn)題之監(jiān)控。
強(qiáng)全自動(dòng)學(xué)習(xí)功能（ATPD）
可快速完成程式調(diào)試，節(jié)約程式調(diào)試時(shí)間；的連板展開及子板偵測(cè)功能，連板展開后無(wú)需調(diào)試，子板偵測(cè)可實(shí)現(xiàn)對(duì)連板中缺板或無(wú)著件板自動(dòng)刪略測(cè)試
微電阻精密測(cè)試
使用四線測(cè)試技術(shù)可消除通道和針點(diǎn)接觸電阻，測(cè)試穩(wěn)定，小可測(cè)試0.05歐姆電阻。
完善的自我檢測(cè)功能，開機(jī)即對(duì)設(shè)備的量測(cè)卡、開關(guān)卡和I/O卡自檢，測(cè)試前設(shè)備的良好性。
S（option）----測(cè)試特點(diǎn)及系統(tǒng)選擇
可搭配S（Shop-Floor Information System）現(xiàn)場(chǎng)管理軟體連線
單步10個(gè)隔離點(diǎn)，對(duì)待測(cè)體信號(hào)源分流提供了更強(qiáng)的隔離效果，了測(cè)試的穩(wěn)定?！?
◆短的數(shù)秒鐘內(nèi)，全檢出組裝電路板（loaded PC board）上件-電阻、電容、電感、電晶體、二體、穩(wěn)壓二體、光偶器、繼電器等件，是否在我們?cè)O(shè)計(jì)的規(guī)格內(nèi)運(yùn)作。
◆先期找出制程不良所在，如漏件（missing part）、折腳（bending）、短路（short）、錫橋（bridge）、反向（miss-oriented）、錯(cuò)件（wrong part）、開路（open）、焊接不良等問(wèn)題，回饋到制程的。
◆述故障或不良資訊以印表機(jī)印出測(cè)試結(jié)果，包括故障位置、件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值，以供維修人員參考?？梢越档腿藛T對(duì)產(chǎn)品技術(shù)依賴度，不需對(duì)產(chǎn)品線路了解，照樣有維修能力。
配備 EC Jet 測(cè)試技術(shù)，電解電容性測(cè)試：
以來(lái)，電解電容性（Polarity）測(cè)試一直是品保人員心中的痛。電解電容的反插在PCB上形同潛藏的不，不知何時(shí)有爆裂的危險(xiǎn)。傳統(tǒng)I對(duì)電解電容性測(cè)試可測(cè)率30~50%，不但測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，且漏判率高，而采用人工目視檢查亦同樣耗時(shí)而不。
針對(duì)實(shí)裝電路板電解電容性和并聯(lián)電容漏件測(cè)試，提出整體解決方案，可測(cè)率趨近于100%，測(cè)試速度快而，真正解決您生產(chǎn)線電解電容測(cè)試的問(wèn)題。針對(duì)電解電容，可測(cè)率趨近100%固態(tài)爆電解電容性趨近100%測(cè)試并聯(lián)電解電容漏件測(cè)試
強(qiáng)大的板示功能（Board View）
測(cè)試時(shí)可即時(shí)圖形顯示不良元件、腳位及針點(diǎn)位置，編輯時(shí)可隨點(diǎn)隨選或手動(dòng)輸入件編號(hào)、腳位、短/開路不良群組、網(wǎng)點(diǎn)列表等，方便問(wèn)題查找及維修。
五線式測(cè)試技術(shù)，可測(cè)四端元件
傳統(tǒng)二線、三線測(cè)試技術(shù)，均只能作較粗略之量測(cè)，易造成量測(cè)的角。本公司機(jī)種采用五線式（5 wires）測(cè)試技術(shù)（2 wires信號(hào)，2 wires測(cè)量表頭，1 wire Guarding），可快速、量測(cè)。
ATPD自動(dòng)測(cè)試程式除錯(cuò)
ATPD自動(dòng)測(cè)試程式除錯(cuò)（Automatic Testing Program Debug），大幅節(jié)省DUT測(cè)試程式制作時(shí)間。
完善統(tǒng)計(jì)分析報(bào)表，監(jiān)控生產(chǎn)品質(zhì)
針對(duì)被測(cè)板可作每日、每月或特定期間之測(cè)試資料統(tǒng)計(jì)分析。根據(jù)不良件、不良針點(diǎn)排行，能很快找到生產(chǎn)問(wèn)題點(diǎn)所在，地如針床品質(zhì)、DUT品質(zhì)等生產(chǎn)問(wèn)題之監(jiān)控。
強(qiáng)全自動(dòng)學(xué)習(xí)功能（ATPD）
可快速完成程式調(diào)試，節(jié)約程式調(diào)試時(shí)間；的連板展開及子板偵測(cè)功能，連板展開后無(wú)需調(diào)試，子板偵測(cè)可實(shí)現(xiàn)對(duì)連板中缺板或無(wú)著件板自動(dòng)刪略測(cè)試
微電阻精密測(cè)試
使用四線測(cè)試技術(shù)可消除通道和針點(diǎn)接觸電阻，測(cè)試穩(wěn)定，小可測(cè)試0.05歐姆電阻。
完善的自我檢測(cè)功能，開機(jī)即對(duì)設(shè)備的量測(cè)卡、開關(guān)卡和I/O卡自檢，測(cè)試前設(shè)備的良好性。
S（option）----測(cè)試特點(diǎn)及系統(tǒng)選擇
可搭配S（Shop-Floor Information System）現(xiàn)場(chǎng)管理軟體連線
單步10個(gè)隔離點(diǎn)，對(duì)待測(cè)體信號(hào)源分流提供了更強(qiáng)的隔離效果，了測(cè)試的穩(wěn)定?！?
