特性--I的功能：
◆短的數(shù)秒鐘內(nèi)，全檢出組裝電路板（loaded PC board）上件-電阻、電容、電感、電晶體、二體、穩(wěn)壓二體、光偶器、繼電器等件，是否在我們?cè)O(shè)計(jì)的規(guī)格內(nèi)運(yùn)作。
◆先期找出制程不良所在，如漏件（missing part）、折腳（bending）、短路（short）、錫橋（bridge）、反向（miss-oriented）、錯(cuò)件（wrong part）、開路（open）、焊接不良等問(wèn)題，回饋到制程的。
◆述故障或不良資訊以印表機(jī)印出測(cè)試結(jié)果，包括故障位置、件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值，以供維修人員參考?？梢越档腿藛T對(duì)產(chǎn)品技術(shù)依賴度，不需對(duì)產(chǎn)品線路了解，照樣有維修能力。
配備 EC Jet 測(cè)試技術(shù)，電解電容性測(cè)試：
以來(lái)，電解電容性（Polarity）測(cè)試一直是品保人員心中的痛。電解電容的反插在PCB上形同潛藏的不，不知何時(shí)有爆裂的危險(xiǎn)。傳統(tǒng)I對(duì)電解電容性測(cè)試可測(cè)率30~50%，不但測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，且漏判率高，而采用人工目視檢查亦同樣耗時(shí)而不。
針對(duì)實(shí)裝電路板電解電容性和并聯(lián)電容漏件測(cè)試，提出整體解決方案，可測(cè)率趨近于100%，測(cè)試速度快而，真正解決您生產(chǎn)線電解電容測(cè)試的問(wèn)題。針對(duì)電解電容，可測(cè)率趨近100%固態(tài)爆電解電容性趨近100%測(cè)試并聯(lián)電解電容漏件測(cè)試
人性化Windows介面，操作簡(jiǎn)單、上手容易
強(qiáng)大的板示功能（Board View）
測(cè)試時(shí)可即時(shí)圖形顯示不良元件、腳位及針點(diǎn)位置，編輯時(shí)可隨點(diǎn)隨選或手動(dòng)輸入件編號(hào)、腳位、短/開路不良群組、網(wǎng)點(diǎn)列表等，方便問(wèn)題查找及維修。
五線式測(cè)試技術(shù)，可測(cè)四端元件
傳統(tǒng)二線、三線測(cè)試技術(shù)，均只能作較粗略之量測(cè)，易造成量測(cè)的角。本公司機(jī)種采用五線式（5 wir）測(cè)試技術(shù)（2 wir信號(hào)，2 wir測(cè)量表頭，1 wire Guarding），可快速、量測(cè)。
ATPD自動(dòng)測(cè)試程式除錯(cuò)
ATPD自動(dòng)測(cè)試程式除錯(cuò)（Automatic Tting Program Debug），大幅節(jié)省DUT測(cè)試程式制作時(shí)間。
完善統(tǒng)計(jì)分析報(bào)表，監(jiān)控生產(chǎn)品質(zhì)
針對(duì)被測(cè)板可作每日、每月或特定期間之測(cè)試資料統(tǒng)計(jì)分析。根據(jù)不良件、不良針點(diǎn)排行，能很快找到生產(chǎn)問(wèn)題點(diǎn)所在，地如針床品質(zhì)、DUT品質(zhì)等生產(chǎn)問(wèn)題之監(jiān)控。
強(qiáng)全自動(dòng)學(xué)習(xí)功能（ATPD）
可快速完成程式調(diào)試，節(jié)約程式調(diào)試時(shí)間；的連板展開及子板偵測(cè)功能，連板展開后無(wú)需調(diào)試，子板偵測(cè)可實(shí)現(xiàn)對(duì)連板中缺板或無(wú)著件板自動(dòng)刪略測(cè)試
微電阻精密測(cè)試
使用四線測(cè)試技術(shù)可消除通道和針點(diǎn)接觸電阻，測(cè)試穩(wěn)定，小可測(cè)試0.05歐姆電阻。
完善的自我檢測(cè)功能，開機(jī)即對(duì)設(shè)備的量測(cè)卡、開關(guān)卡和I/O卡自檢，測(cè)試前設(shè)備的良好性。
S（option）----測(cè)試特點(diǎn)及系統(tǒng)選擇
可搭配S（Shop-Floor Information System）現(xiàn)場(chǎng)管理軟體連線
單步10個(gè)隔離點(diǎn)，對(duì)待測(cè)體信號(hào)源分流提供了更強(qiáng)的隔離效果，了測(cè)試的穩(wěn)定。
預(yù)留S系統(tǒng)、條碼掃描、方位監(jiān)控、蓋章功能、保護(hù)等接口，客戶可根據(jù)需求進(jìn)行選購(gòu)?！?
◆短的數(shù)秒鐘內(nèi)，全檢出組裝電路板（loaded PC board）上件-電阻、電容、電感、電晶體、二體、穩(wěn)壓二體、光偶器、繼電器等件，是否在我們?cè)O(shè)計(jì)的規(guī)格內(nèi)運(yùn)作。
◆先期找出制程不良所在，如漏件（missing part）、折腳（bending）、短路（short）、錫橋（bridge）、反向（miss-oriented）、錯(cuò)件（wrong part）、開路（open）、焊接不良等問(wèn)題，回饋到制程的。
◆述故障或不良資訊以印表機(jī)印出測(cè)試結(jié)果，包括故障位置、件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值，以供維修人員參考?？梢越档腿藛T對(duì)產(chǎn)品技術(shù)依賴度，不需對(duì)產(chǎn)品線路了解，照樣有維修能力。
配備 EC Jet 測(cè)試技術(shù)，電解電容性測(cè)試：
以來(lái)，電解電容性（Polarity）測(cè)試一直是品保人員心中的痛。電解電容的反插在PCB上形同潛藏的不，不知何時(shí)有爆裂的危險(xiǎn)。傳統(tǒng)I對(duì)電解電容性測(cè)試可測(cè)率30~50%，不但測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，且漏判率高，而采用人工目視檢查亦同樣耗時(shí)而不。
針對(duì)實(shí)裝電路板電解電容性和并聯(lián)電容漏件測(cè)試，提出整體解決方案，可測(cè)率趨近于100%，測(cè)試速度快而，真正解決您生產(chǎn)線電解電容測(cè)試的問(wèn)題。針對(duì)電解電容，可測(cè)率趨近100%固態(tài)爆電解電容性趨近100%測(cè)試并聯(lián)電解電容漏件測(cè)試
人性化Windows介面，操作簡(jiǎn)單、上手容易
強(qiáng)大的板示功能（Board View）
測(cè)試時(shí)可即時(shí)圖形顯示不良元件、腳位及針點(diǎn)位置，編輯時(shí)可隨點(diǎn)隨選或手動(dòng)輸入件編號(hào)、腳位、短/開路不良群組、網(wǎng)點(diǎn)列表等，方便問(wèn)題查找及維修。
五線式測(cè)試技術(shù)，可測(cè)四端元件
傳統(tǒng)二線、三線測(cè)試技術(shù)，均只能作較粗略之量測(cè)，易造成量測(cè)的角。本公司機(jī)種采用五線式（5 wir）測(cè)試技術(shù)（2 wir信號(hào)，2 wir測(cè)量表頭，1 wire Guarding），可快速、量測(cè)。
ATPD自動(dòng)測(cè)試程式除錯(cuò)
ATPD自動(dòng)測(cè)試程式除錯(cuò)（Automatic Tting Program Debug），大幅節(jié)省DUT測(cè)試程式制作時(shí)間。
完善統(tǒng)計(jì)分析報(bào)表，監(jiān)控生產(chǎn)品質(zhì)
針對(duì)被測(cè)板可作每日、每月或特定期間之測(cè)試資料統(tǒng)計(jì)分析。根據(jù)不良件、不良針點(diǎn)排行，能很快找到生產(chǎn)問(wèn)題點(diǎn)所在，地如針床品質(zhì)、DUT品質(zhì)等生產(chǎn)問(wèn)題之監(jiān)控。
強(qiáng)全自動(dòng)學(xué)習(xí)功能（ATPD）
可快速完成程式調(diào)試，節(jié)約程式調(diào)試時(shí)間；的連板展開及子板偵測(cè)功能，連板展開后無(wú)需調(diào)試，子板偵測(cè)可實(shí)現(xiàn)對(duì)連板中缺板或無(wú)著件板自動(dòng)刪略測(cè)試
微電阻精密測(cè)試
使用四線測(cè)試技術(shù)可消除通道和針點(diǎn)接觸電阻，測(cè)試穩(wěn)定，小可測(cè)試0.05歐姆電阻。
完善的自我檢測(cè)功能，開機(jī)即對(duì)設(shè)備的量測(cè)卡、開關(guān)卡和I/O卡自檢，測(cè)試前設(shè)備的良好性。
S（option）----測(cè)試特點(diǎn)及系統(tǒng)選擇
可搭配S（Shop-Floor Information System）現(xiàn)場(chǎng)管理軟體連線
單步10個(gè)隔離點(diǎn)，對(duì)待測(cè)體信號(hào)源分流提供了更強(qiáng)的隔離效果，了測(cè)試的穩(wěn)定。
預(yù)留S系統(tǒng)、條碼掃描、方位監(jiān)控、蓋章功能、保護(hù)等接口，客戶可根據(jù)需求進(jìn)行選購(gòu)?！?
其他說(shuō)明
| 項(xiàng)目 | 功能 | 規(guī)格 | Q998 |
| 測(cè)試點(diǎn)數(shù) | 標(biāo)準(zhǔn)配置 | 256 | |
| 點(diǎn)數(shù) | 1024 | ||
| 可擴(kuò)充65,536點(diǎn) | √ | ||
| 開關(guān)卡 | CMOS+Relay | 每一信道卡128個(gè)信道 | 選購(gòu) |
| CMOS+放電Relay | 每一信道卡64個(gè)信道 | √ | |
| 全Relay | 每一信道卡64個(gè)信道 | √ | |
| 隔離點(diǎn) | 每一測(cè)試有10個(gè) | √ | |
| 測(cè)試信號(hào)源(可程序) | DC電壓 | &plun;10mV~&plun;7.5V或15V | √ |
| AC電壓 | 10mVPP~10VPP | √ | |
| AC/DA電壓 | 10uA~20mA | √ | |
| 測(cè)試頻率 |
120, 1020, 10K, 100KHz, 2MHz(60MHz) 100,1000,10K, 100KHz, 2MHz(50MHz) |
√ | |
| 測(cè)試步驟 | 無(wú)限制 | √ | |
| 測(cè)試速度 | 每一組件:2mS~4mS | √ | |
| 開/短路0.5秒/1,024點(diǎn) | √ | ||
| 測(cè)試范圍 | 電阻 | 0.5Ω~100MΩ(二線式)&plun;1%~5% | √ |
| 電容 | 1pF~40mF&plun;2%~5% | √ | |
| 電感 | 1uH~50H&plun;2%~5% | √ | |
| 二管 | 0.1~6V&plun;1%~3% | √ | |
| 穩(wěn)壓二管 | 0.1~12V&plun;1%~3% | √ | |
| 電晶體 | 三端測(cè)試Vce飽和電壓及β值 | √ | |
| 場(chǎng)效電晶體 | 三端測(cè)試Vds,Cds&Rd(on) | √ | |
| 光耦器及繼電器 | 四端測(cè)試其導(dǎo)通壓或電阻 | √ | |
| 阻串并聯(lián) | 采用多頻測(cè)試及相位分離法(8°~82°) | √ | |
| EC Jet | C電容性鑒別技術(shù)/ 并聯(lián)EC電容漏件 | √ | |
| TA Jet |
T IC, BGA, 南北橋,SCSI/PCI D Conneor, 開/短路及空焊測(cè)試 |
- | |
| 測(cè)試功能 | 二級(jí)(穩(wěn)壓)管 | 升壓至15V | √ |
| 電阻(四線式) | 小50mΩ(四線式)&plun;1%~5% | √ | |
| DR Mode | 可測(cè)二管或IC漏件及空焊檢測(cè) | √ | |
| 開/短路 | O/S進(jìn)階參數(shù)設(shè)定 | 選購(gòu) | |
| 二級(jí)(穩(wěn)壓)管 | 新增CV, CVIL, CIVL,測(cè)試模式 | 選購(gòu) | |
| 電容性漏件 | 二端漏電流 | 選購(gòu) | |
| D Mode | 小量測(cè)電流1uA | 選購(gòu) | |
| PIC Mode | Power IC測(cè)試 | - | |
| CDS Mode | 可測(cè)發(fā)光二管亮度 | - | |
| 按鍵功能 | 配合人工操作檢測(cè)按鍵 | - | |
| V Mode | 量測(cè)供電后之電壓 | - | |
| I Mode | 量測(cè)供電后之電流 | - | |
| Tol Rate | 修正功能 | - | |
| 硬件功能 | 自動(dòng)蓋章 | 測(cè)試P or Fail 自動(dòng)蓋章設(shè)備 | 選購(gòu) |
| 監(jiān)控放置 | 監(jiān)控放置方位(P與Fail分流) | - | |
| 程序啟動(dòng)壓床 | I程序啟動(dòng)時(shí)壓床方可動(dòng)作 | 選購(gòu) | |
| 多壓床 | 多或雙壓床系統(tǒng) | - | |
| 直通率監(jiān)控 | 當(dāng)直通率 | - | |
| 軟件功能 | 一般功能 | ICDSheet | √ |
| 板示功能(Board View) | √ | ||
| 連板功能 | √ | ||
| 修改直通率 | 選購(gòu) | ||
| 板示自動(dòng)生成 | 選購(gòu) | ||
| 子板選測(cè) | 選購(gòu) | ||
| 條形碼控制 | 選購(gòu) | ||
| 多連片條形碼控制與識(shí)別 | 選購(gòu) | ||
| 自動(dòng)DUT | 選購(gòu) | ||
| 測(cè)試值存檔(基本測(cè)試值欄) | 選購(gòu) | ||
| 輸出可測(cè)率分析表 | 選購(gòu) | ||
| 多連板條形碼檢測(cè)條形碼重測(cè) | 選購(gòu) | ||
| S(Shop-Floor Information System) | Yi-Tek S(周易) | - | |
| ShineWave S(翔威) | - | ||
| Sajet S(僯) | - | ||
| Off-line S(依客戶需求) | - | ||
| 語(yǔ)言支持 | 支持簡(jiǎn),英,韓等國(guó)語(yǔ)言 | 選購(gòu) | |
| 匯入他廠文件 | TRI(德律),JIET(捷智) | √ | |
| Adsys&NewSys(系新),BOS360(系統(tǒng)) | 選購(gòu) | ||
| SRC(星河),Concord(振華) | 選購(gòu) | ||
| OKA, TCON, TC5,TC100 | 選購(gòu) | ||
| 匯出檔案 | TRI(德律),TEXT(文字文件) | 選購(gòu) | |
| Adsys&NewSys(系新)V5.2X, V6.XX, V8.XX | 選購(gòu) | ||
|
大電流 訊號(hào)源 (可程序) |
DC電壓 | &plun;10mV~&plun;7.5V或15V | - |
| AC電壓 | 10mVPP~15VPP | ||
| AC/DA電壓 | 10uA~150mA | ||
| 測(cè)試頻率 |
120, 1020, 10K, 100KHz, 2MHz(60MHz) 100,1000,10K, 100KHz, 2MHz(50MHz) |
||
| 開機(jī)測(cè)試 | 在小功率的DUT,可量測(cè)其電壓電流 | - | |
| 功率電晶體 | 三端測(cè)試Vce飽和電壓及β值 | - | |
| 功率場(chǎng)效電晶體 | 三端測(cè)試Vds,Cds&Rd(on) | - | |
| 光耦器及繼電器(高電流) | 四端測(cè)試其導(dǎo)通壓或電阻 | - | |
| 振動(dòng)馬達(dá) | 二端電流法(量測(cè)手機(jī)之振動(dòng)馬達(dá)) | - | |
| 大電壓訊號(hào)源(可程序) | DC電壓 | &plun;30mV~&plun;30V或60mV~60V | - |
| DC電流 | 500uA~100mA | - | |
| 高壓穩(wěn)壓二管 | 0.1~60V&plun;1%~3%(CVIL) | - | |
| 電信高壓量測(cè) | 電信終端之訊號(hào) | - | |
| I²C Host Adaptor | On Board燒錄(Program write/Verifier) | - | |
| 主處理機(jī)(選購(gòu)) |
CPU: Pentium1V以上/ RAM: 2GB / H.D.D : 80G 顯示器:19"LCD及支撐架 |
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| 操作系統(tǒng)(選購(gòu)) | Windows XP | ||
| 客戶可自行搭售 |
EPSON TM220PD雙色打印機(jī) 開關(guān) ... |
||
